Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов

Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

<и 926584

Союз Советских

Социалистическик

Рес убл (6! ) Дополнительное к авт. сеид-ву(22) Заявлено 15. 09.80 (2! )2982690/25-28 с присоединением заявки М 2982758/25-28 (23) Приоритет(51)М. Кл.

С 01 М 27/90!

Ъеудлрстеоеый комитет

CCCP ао делам нзобретеннй н открытнй (53) УД К620. 179 .14(088. 8) Опубликовано 07 ° 05 82. Бюллетень №17

Дата опубликования описания 07.05.82; — — —.

В. Г. Вяхорев, В. С. Ни кулыгин и П. П. Олейников ! !

1

-- " =l (72) Авторы изобретения (7!) Заявитель (54) ИМИТАТОР ДЛЯ НАСТРОЙКИ ЭЛЕКТРОНАГНИТНЫХ

ДЕФЕКТОСКОПОВ

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано при дефектоскопии мате риалов и изделий методом вихревых токов.

Известен имитатор для настройки дефектоскопов, состоящий из электропроводного основания и искусственного дефекта в виде твердого тела из электропроводного материала, прикрепленного к поверхности основания 11 1. о функциональные возможности имитатора ограничены, поскол ь ку он пра ктически не позволяет имитировать под

15 поверхностные трещины с переменной глубиной и шириной раскрытия.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является имитатор для настройки электромагнит20 ных дефектоскопов,, состоящий из основания в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусственного дефекта, выполненного по коайней мере в одном из слоев в виде сквозной, прорези Г2).

Недостатком имитгтора является то, что при изготовлении трещин перемен- . ной глубины необходимо изготавливатЬ искусственную трещи ну в нес кол ьких слоях и жестко фиксировать слои одни относительно других, образуя одну трещину.

Цель изобретения. — снижение трудо" емкости изготовления искусственных дефектов типа трещин переменной глубины и ширины раскрытия.

Поставленная цель достигается за счет того, что в имитаторе для настройки электромагнитных дефектоскопов, состоящем из основания в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусственного дефекта, выполненного по крайней мере в одном из слоев, слой с искусственным дефектом выполнен в виде двух соосных втулок, а искусственный дефект размещен между торцами втулок.

3 92658

Для получения трещин переменной глубины втулки выполняются эксцентричными, а искусственный дефект выполняется в виде шайбы из непроводящего материала, размещенной между торцами втулок.

При этом для получения трещин с постоянным углом раскрытия, один из торцов втулки может быть выполнен в виде внешнего конуса с вершиной, лежащей на оси втулки, или в виде внутреннего конуса с вершиной, лежаI щей на оси наружного цилиндра втулки ..

Для получения трещин с переменной шириной раскрытия втулки выполнены 15 цилиндрическими и соприкасающимися в одной точке, а плоскость торца одной из втулок, обращенного к другой втулке, образует с осью втулки угол, равный 88-89,8

Основание и втулки в имитаторе могут быть выполнены из материалов с различной электропроводностью.

Имитатор может быть выполнен со шкалой исследуемого параметра ими- 25 тируемого дефекта.

На фиг. 1 показан имитатор, в котором основание выполнено в виде электропроводного стержня, размещенного внутри эксцентричных втулок; на фиг. 2 - сечение А-А на фиг. 1, на фиг. 3 - имитатор, в котором основание выполнено в виде трубы> которая охватывает эксцентричные втулки на фиг. 4 и 5 - то же основаЭ

35 ния выполнены в. виде двух слоев, между которыми. размещены эксцентричные втулки; на фиг. 6 и 7 - то же, торцы эксцентричных втулок выполнены в виде внешних конусов с вершинами, лежащими на осях отверстий втулок; на фиг. 8 и 9 - то же, торцы эксцентричных втулок выполнены в виде внутренних конусов с вершинами, лежащими на осях наружных поверхностей

45 втулок на фиг. 10 - то же, основание выпОлнено в виде стержня иэ непроводящего материала и размещено внутри цилиндрических втулок на фиг, 11 - то же, основание выполнено в виде стержня иэ электропровод50 ного материала и размещено внутри цили1>дрических втулок на фиг, 12то же, основание выполнено в виде трубы из электропроводного материала.и размещено внутри цилиндрических втулок; на фиг. 13 - то же, основание выполнено в виде трубы из проводящего материала, охватывающей

4 4 цилиндрические втулки; на фиг. 14— то же, основание выполнено в виде трубы из непроводящего материала, охватывающей цилиндрические втуЛки.

Имитатор содержит электропроводные втулки и 2 основание 3, искусственный дефект 4, шкалу 5 параметра дефекта (глубина или ширина трещины),элементы 6 крепления втулок и винты 7. В вариантах имитатора, представленных на фиг. 4 и 5, основание 3 имитатора выполнено иэ двух слоев.

Имитатор дефектов типа трещин переменной глубины изготавливают следующим образом.

Измерительным прибором, например .микроскопом, измеряют толщину стенок втулок 1 и 2 в различных точках по окружности и градуируют шкЪлу 5. После этого между втулками 1 и 2 устанавливают искусственный дефект-шайбу 4, и собирают имитатор, для чего втулки с помощью элементов 6 и винтов 7 крепят к основанию 3, при этом втулки поджимают одну к другой.

Имитатор дефектов типа трещин с переменной шириной раскрытия изготавливают, следующим образом.

Втулки 1 и 2 поджимают одну к другой с помощью элементов 6 и винтов 7.

Затем измерительным прибором, например микроскопом, измеряют ширину трещины в различных точках и градуируют шкалу 5.

С имитатором работают следующим образом.

Электромагнитный преобразователь 8 дефектоскопа устанавливают над трещиной. Снимают показания дефектоскопа и сравнивают их с его градуировкой.

Затем осуществляют настройку дефектоскопа, добиваясь показания его индикатора, соответствующего делению. шкалы 5 параметра дефекта имитатора.

Аналогичным образом проводится поверка дефектоскопа по всем величинам исследуемого параметра дефекта.

Предлагаемый имитатор прост в изготовлении, обладает хорошей воспроизводимостью, позволяет имитировать трещины с переменной глубиной и шириной раскрытия различного типа (поверхностные, подповерхностные, внутренние) . Целесообразно испольэовать имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов, предназначенных для контроля труб, прутков, листов и др.

926584 формула изобретения

Имитатор для настройки электромагнитных дефектоскопов, состоящий из основания в виде многослойного электропроводного цилиндра и искусст венного дефект а, выполнен ного по крайней мере в одном из слоев, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью снижения трудоемкости изготовления искусственных дефектов типа трещин, слой с искусственным дефектом выполнен .в виде двух соосных втулок, а искусственный дефект размещен между торцами втулок.

2. Имитатор по и. 1, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью получения трещины переменной глубины, . втулки выполнены эксцентричными, а искусственный дефект выполнен в виде шайбы из непроводящего материала, размещенной между торцами втулок.

3. Имитатор по пп. 1 и 2, о т.л и ч а ю шийся тем, что, с 25 целью получения трещин с постоянным углом раскрытия, один из торцов втулки выполнен в виде внешнего конуса с вершиной, лежащей на оси от- . верстия втулки. зо

° 6

4. Имитатор по пп. 1 и 2, о тл и ч а ю шийся тем, что один из торцЬв втулки выполнен в виде внутреннего конуса с вершиной, лежащей на оси наружного цилиндра втулки.

5. Имитатор по п.1, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью получения трещин с переменной шириной раскрытия, втулки выполнены цили ндри чески ми и сопри касающими ся в одной точке, а плоскость торца одной из .втулок, обращенного к другой втулке, образует с осью втулки угол, равный 88-89,8

6. Имитатор по пп.1-5, о т л ич а ю шийся тем, что основание и втулки выполнены из материалов с различной электропроводностью.

7. Имитатор по пп. 1-6, о т л ич а ю шийся тем, что он выполнен со шкалой исследуемого параметра имитируемого дефекта.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

М 526652, кл. 6 01 Н 27/86, 19г4.

2. Авторское свидетельство СССР 739391, кл. G 01 N 27/86, 1978 (прототип).

926584

Составитель А.Жигарев

Редактор А.Власенко ТехредЕ.7аритончик корректор О. Билак

Заказ 2976/38 Тираж 883 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, 3-35, Раушская наб., д, 4/5

Филиал ППП "Патент", г.Ужгород, ул.Проектная, 4