Устройство для интерферометрического измерения деформаций объектов

Устройство для интерферометрического измерения деформаций объектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАНИЕ (934215

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТ8У

Союз Советсинк

Соцналнстнчесннк

Республнн (6l ) glîï0ëíèòåëüí0å к авт. свид-ву (22)Заявлено 28.07.80 (21) 2g68718/2g 28 с присоединением заявки М(23) Приоритет (5t}M. Кл.

G 01 В 11/16

Гооударотееееые квинтет

СССР ло делан изооретенне и открытей

Онубликовано 07.06.82. Бюллетень М 21 (53) УДК531.781 ° .2(088.8) Дата опубликования описания 07.06.82! с j"Щ 3 $

"- 3ъ мсаюж 1 ьйМИОт@ е (72) Авторы изобретения

И.В.Волков и И.С.Клименко (TI) Заявитель (547 УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО

ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ОБЪЕКТОВ

Изобретение относится к оптичес- ким средствам измерения деформаций объектов и может быть использовано для интерференционного контроля деформаций объектов с произвольной структурной поверхности.

Известно устройство для интерферометрического измерения деформаций объектов, содержащее расположенные вдоль оптической оси источник когерентного света, коллиматор, лин о зу и непрозрачный экран с фильтрующим отверстием, размещенный в фокаль-. ной плоскости линзы 11 j.

Наиболее близким к предлагаемому

1$ по технической сущности и достигаемому эффекту является устройство для интерферометрического измерения деформаций объектов, содержащее расположенные вдоль оптической оси источник когерентного света, коллиматор, линзу и непрозрачный экран с фильтрующим отверстием, размещенный в фокал ьной плос кости (2 ).

Недостатком этих устройств является невозможность выделения компонент деформации и смецения объекта.

Кроме того, при анализе полученных интерферограмм не удается установить наличие, характер, величину, и направление деформации.

Цель изобретения — повышение точности и чувствительности измерения деформации объекта.

Указанная цель достигается тем, что устройство снабжено прозрачным экраном с маской, размещенным в фокальной плоскости линзы, а непрозрач" ный экран с фильтруюцим отверстием размещен на расстоянии от фокальной плоскости линзы, превышающем двойное фокусное расстояние.

На чертеже представлена схема устройства.

Устройство содержит расположенные последовательно вдоль оптической си источник 1 когерентного света (лазер), коллиматор 2, спекл-гологФормула изобретения

Составитель В.Стуйт

Техред И. Гергель Корректор А.Гриценко

Редактор, В.Иванова

Ю Э

Заказ 3906/32 Тираж 614 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Иосква, Ж-.35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ППП "Патент", r.Óÿãîðoä, ул.Проектная,4

3 93 рамму 3, линзу 4, производящую фурьепреобразование, прозрачный экран

5 с маской в фокальной точке, перекрывающей нулевой порядок, подвижный непрозрачный экран 6 с фильтрую1 щим отверстием 7, размещенный на расстоянии от фокальной плоскости, превышающей двойное фокусное, и фотоаппарат 8, регистрирующий интерфе" рограмму.

Устройство работает следующим образом.

Ионохроматический. когерентный свет. от лазера 1 расширяется коллиматором 2. Плоская световая волна, выходящая из коллиматора 2, падает на спекл"голограмму 3 исследуемого объекта, полученную методом двойной . экспозиции: первая экспозиция в исходном состоянии объекта, вторая после его деформации. Рассеянное спекл-гопограммой 3 световое поле проходит через линзу ч и подвергается фурье-преобразованию. Экран 5 с маской в фокальной плоскости подавляет недифрагированный пучок, Пропущенное отверстием 7 экрана 6 излучение в вида интерферограммы, характеризующее деформацию, наблюдается и регистрируется фотоаппаратом 8, Перемещение непрозрачного экрана 6 с отверстием

4215 4

7 изменяет чуBcTBHTGJlbHGGTb измерения деформации объектов.

Таким образом, предлагаемое устройство позволяет измерить величину з и направление деформации объекта, повысить точность,и чувствительность ее измерения.

Устройство для интерферометрического измерения деформации объектов, содержащее расположенные вдоль оптической оси источник когерентного све та, коллиматор, линзу и непрозрачный экран с фильтруюцим отверстием, о т л и ч а ю ц е е с я тем, что, с целью повышения точности и чувствительности, оно снабжено прозрачным экраном с маской, размещенным в фокальной плоскости линзй, а непрозрачный экран с фильтрующим отверстием размещен на расстоянии от фокальной плоскости, превышающем двойное фокусное расстояние.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент СНА М 3639039, кл. 390-162, 1972 °

2, Франсон И, Оптика спеклов. M., "Иир", 1980, с.96 (прототип).