Проволочки для измерения малых отверстий диаметром от 0,3 до 1 мм

Проволочки для измерения малых отверстий диаметром от 0,3 до 1 мм

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

М 63551

К,!!асс 42b, 12ос

СССР

И. Н, Речицкий и И. А. Григорьев

ПРОВОЛОЧКИ ДЛЯ ИЗМЕРЕИИЯ МАЛЬ|Х ОТВЕРСТИЙ ДИАМЕТРОМ о — 0,3 до 1 !!.!!

Заявлено 13 и!оля !960 —. аа X 465/431406 в Гостехнину СССР

Из Оесконтактных методов 011трйл я м 3 1»!.I Отверстиг! 1*,3IInn, !се известны пневматическии и оптическии методы. Однако первьш позволяет оценить лишь площадь поперечного сечения отверстия, а второй—

Р3ЗМЕРЫ Ъ I

Из контактных методов контроля малых отверстий наиболее pacnpocTp3IIcIIb1 I4oIITp0,1ü предельными ка;1иб133 !и-прОбкам!1 и !,Онтрол! игольчатыми дыромерами. Однако первый — не позволяет определить действительные размеры отверстия II уста):,ов1!Tb погрешности формы, 3 второи Oci ществляет измерения лишь по кра!о отверстия и T3кже не позволяет oilåí Iòb погрешности формы.

Для определc!Iия действительных размеров малого отверстия в 1!Обом его сечен1ш привод!!ы лишь контактные методы. Известный, но сравнительно мало распространенный, метод контроля посредством коллимационной насадки к инструментальному и универсальному микроскопа.;! позволяет измерять отверстия не менее 3 л13!. Этот предел ооусловлен влиянием изгибов проволочки под действием измерительного усилия.

Осуществление контроля малых отверстий посредством предлагаемых проволочек и микроскопа со спиральным нонимсом позволяет избе:кзть ocHQBIIb!x недостаткОВ др ги. контаl тны . 31етодов и разрешить задачу измерения отверстий диаметром от 0,3 до 1 !!.!!.

Предлагаемые проволочки выполняются с полусферическими головками и имеют доведенные торцы с нанесен ьв!и на ш!х риской илп точкой, которые могут рассматриваться в микроскоп со спиральным нониусом.

На фиг. 1 показан прибор, с помощью которого осуществляются измерения; на фиг. 2 и 3 — конечные положения проволочки в процессе № 93551 измерения; на фиг. 4 — поле зрения отсчетного устройства микроскопа;

II3 фиг. 5 — QB2 полон(ения IlpoBo. o t (H в процессе H31tepe tHi .

На колонке прибора (фиг. 1) кроме микроскопа крепятся два столика. На нижнем столике закрепляется проволочка, которая с помощью двух винтов может устанавливаться в требуемое положение относительно оси микроскопа. Винтом 1 проволочка может перемещаться в вертикальном направлении. На верхнем столике пружинным зажимом закрепляется измеряемое изделие. При вводе проволочки замечается положение контура кольца по спиральному нониусу и с помощь|о винта 2 ориентируется положение проволочки относительно контура отверстия; после этого проволочка вводится в отверстие.

Перемещая гроволочку до контакта с одной стенкой отверстия (фиг. 2), совмещают риску или точку на торце головки проволочки со штрихом отсчетного устройства и производят первый отсчет. Затем перемещают проволочку до контакта с другой стенкой (фиг. 3) и производят второй отсчет по отсчетному устройству, поле зрения которого показано на фиг. 4. Разность двух отсчетов определяет размер в (фиг. 5).

Ди",ìåòð отверстия определится по рормуле

В= — + — +b=d+b, г где D — измеряемый диаметр, d — диаметр проволочки, b — разность отсчетов по нониусу.

Предмет изобретения

Проволочки для измерения малых отверстий диаметром от 0,3 до

1 я.и контактным методом посредством микроскопа со спиральным нониусом, отл и ч а ю щи е с я тем, ITo, с целью устранения погрешностей измерения, возникающих вследствие изгиба проволочек, проволочки выполнены с полусферическими головками. № 93551 й/- 935 !

Л

11

11

Фиг.2

Фиг 3

Редактор E. Гончар Техред А. А. Кудрявицкая

Корректор В. П. Фомина

Подп. к печ. 10/IV — 63 г. Формат бум. 70 ;, 108 /„- Объем 0,26 изд. ги

Зак, 1024/15 Тиранс 200 Цена 5 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, дом. 4.

Типография, пр. Сапунова, д. 2.