Способ измерения деформаций многослойных образцов

Способ измерения деформаций многослойных образцов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И С А Н И Е ()937987

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союз СОветсних

Социалистических

Республик

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (51)M. Кл .

G01 В 5/30 (22) Заявлено 05.11.80 (21) 3000795/25-28 с присоединением заявки РЙ

9кударотакнкый комвтет

СССР ао делам взабретенкй и открытий (23)Приоритет

Опубликовано 23.06.82. Бюллетень № 23 (53) УДК 531.781, .2(088.8) . Дата опубликования описания 23.06.82 (72) Авторы изобретения

M. lL Геращенко и Е. А. Логинов

1., ) к °" е с.:

1 (71 ) Зая вител ь (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ

МНОГОСЛОЙНЫХ ОБРАЗЦОВ

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к рентгенографическим способам определения деформаций многослойных образцов из оптически непрозрачных материалов.

Известен способ измерений деформаций образцов из оптически непрозрачного материала, заключающийся в том, что на поверхности разъема исследуемого образца образуют кинавки, укладывают в них проволочную сетку, отличающуюся по своим физикохимическим свойствам от материала образца (1) .

Недостатком известного способа является искажение результатов измерения деформаций вследствие сопротивления деформирован ию каркаса координатной сетки.

Наиболее близким к изобретению является способ измерения деформаций многослойных образцов из оптически непроэ рачного материала, заключающийся в том, что на исследуемый внутренний слой наносят рентгенонепроницаемый материал, ренгтгенографируют образец до нагружения и после нагружения, сравнивают снимки и по результатам сравнения определяют деформацию образца.

Сетку получают путем введения краски в штриховые углубления одной из поверхностей разьема, которые наносят на заточном станке (21 .

Недостатком известного способа является искажение результатов измерения деформаций вследствие выполнения штриховых углублений, которые являются кон« центраторами напряжений и уменьшают прочностные характеристики исследуемых обьектов, а также вследствие разруше

15 ния или t отслоения ренчгенонепроницаемо го материала при больших деформациях, при. циклических нагрузках и при высоких температурах.

Цель изобретения — повышение точноь20 ти измерений деформаций.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения деформаций многослойных образцов из опти937987 ф ния деформаций за счет исключения указанных недостатков. чески непрозрачного материала, заключающийся в том, что на исследуемый внутренний слой наносят рентгенонепро ницаемый материал, рен генографируют образец re нагружения и после нагружения, сравнивают снимки и по результатам сравнения определяют деформацию образца, нанесение рентгенонепроницаемого мате - . риала осуществляют путем введения его в поры каждого слоя материала исследуе-10 мого образца.

Способ осуществляется следующим образом.

В процессе изготовления многослойного образца нанесение рентгенонепрони- t5 цаемого материала осуществляют путем введения его в поры каждого слоя материала исследуемого образца, например вакуумированием. для этого в вакуумную камеру помещают разобранный образец 2О с напиленными частицами рентгенонепре ницаемого вещества и создают вакуум.

Во время процесса ввкуумирования очищаются опоры образца и удаляется из них воздух . Затем выключают gcTBH0B и сообщают вакуумную камеру с атмооферой. При этом воздух, устремляясь в поры, увлекает частицы рентгенонепроницвемого вещества. 9ти частицы заполняют объем пор и прочно фиксируются в них.

После этого очищают соединяемые поверхности слоев и производят сборку образца, соединяя его слои. (:, Рентгенографируют образец до нагрук..ения и после нагружены сравнивают снимки и по результатам сравнения определяют деформацию образца. ,Пля рентгенографировнния применяют рентгеновскую пленку е высокой разрушиющей способностью, например РТ-5. 4, Использование предлагаемого способа обеспечивает повышение точности измереПредлагаемый способ позволяет точно измерить деформации объектов, имеющих малые абсолютные размеры, твк квк аамерения ведутся HB уровне межмолекулярных Пор .

Тойное измерение деформаций при испытаниях позволяет более достоверно рассчитывать элементы реальной конструк ции, например при проектированич и изготовлении летательных аппаратов, сосудов, транспортных средств и других сооружьний, в которых применяются многослойные конструкции.

Формула изобре тен ия

Способ измерения деформаций многослойных образцов из оптически непрозрачного материала, заключающийся в том, что на исследуемый внутренний слой наносят рентгенонепроницаемый материал, рентгенографируют образец до нагружения и после нагружены, сравнивают снимки и по результатам сравнения определяют деформацию образца, о т л и ч а ющ а и с я тем, что, с целью повьппения точности измерений, нанесение рентгенонепроницаемого материала осуществляют путем введения его в поры каждого слоя материала исследуемого образца.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Авторское свидетельство СССР

No. 287385, кл. G 01 В 5/30, 1969.

2. Авторское свидетельство СССР

No 520511, кл. G 01 B 15/06, 1972 (прототип).

Составитель Е Щелинв.

РедактоР Н. ДУшиенковв ТехРед А.Бабинец КоРРектор У. Пономаренко

Заказ 4439/58 Тираж 614 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений..и. открытий, 113035,, Москва, Д-33,, Рвушская нвб„, д. 4/5

Филиал ППП "Патент, r. Ужгород, ул. Проектная, 4