Способ контроля качества материалов

Способ контроля качества материалов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Сееез Соеетеиив

Сеновал»ет »час»ив

Уеенублм»

ОП ИСАНИЕ

ИЗО6РЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ iii938140 (8l ) Дополнительное к авт. саид-ву (22) Заявлено 19.12.80 (21) 3221137/25-28 с присоединениеМ заявки М (23) Приоритет

Опубликовано 23.06.82. Бюллетень М 2

Дата опубликования описания 2 .06.82 (51)М. Кл.

Q 0lN 29/04

1веударааавй кв»втет

CCCP ее маз» кзввретеккв к открытий (5З) УДК620.179., 16(088.8) (72) Авторы изобретения

С. С. Гапонов и Н. В. Рабодзей

i Ъ.. 4, (7I) Заявитель (54) СПОСОБ ®ОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля качества иэделий электронной промышленности.

Известен способ ультразвукового

5 контроля материалов, заключающийся в том,-что в изделие излучают ультразвуковые частотно-модулированные колебания, принимают отраженные от дефектов сигналы, анализируют спектральный состав этих сигналов и по огибающей спектра удят о характере пефектов !1 ) .

Недостатками известного способа являются сложность и низкая точность расшифровки характера дефектов ввиду многообразия спектральных характеристик дефектов и низкая производительность отработки спектров вследствие большого количества измеряемых параметров, Наиболее близким по технической сущности является способ контроля качества материалов, заключающийся в том, что в образце материала возбуждают акустические колебания с помощью сфокусированного элек тромагнитного излучения, регистрируют возбужденные колебания при сканировании точки воз-, буждения по поверхности контропируемого образца и по их амплитуде судят о качестве материала 2 .

Недостатками укаэанного способа являются низкая чувствительность обнаружения микронеоднородностей внутренней структуры и сложность регистрации малых амплитуд в широком спектре частот принимаемых продольных типов колебанийй.

11ель изобретения — повышение чувствительности и разрешения при обнаружении микронеоднородностей внутренней Структуры и обьема получаемой wформации.

Gab изобретения достигается тем, что, согласно способу контроля качества материалов, заключающемуся в том, что в образце материала возбуждают акустические колебания .с помощью сфо кусированного электромагнитного ssny0

3 93814 ченкя, регистрируют возбужденные колебания при сканировании точки возбуждения по поверхности контролируемого образца и по их амплитуде судят о качестве материала, принимают колебания, частоты которых соответствуют собстве шым поперечным колебаниям образца, в о наличии и величине микронеоднородностей внутренней структуры судят по изменению среднего значения амплитуды 10 принятых акустических колебаний.

На чертеже изображена блок-схема устройства, реализующего способ контроля качества материалов.

Устройство содержит пьезоприемник 15

1, лазер 2, линзу 3, фокусируюшую из лучение лазера 2, сканирующий блок 4, усилитель 5, связанный с пьезоприемником 1, перестраиваемый полосовой фильтр

6, соединенный с выходом усилителя 5, ро двухкоординатный самописец 7 и осциллограф 8, соединенные с выходом перестрамввемого полосового фильтра 6. пределения амплитуд акустических кольбаний в образце 9 контролируемого мате риала, по которым судят о наличии и величине микронеоднородностей внутренней структуры.

При исследовании материалов, обладающих пьезосвойствами, необходимость в пьезоприемнике 1 отпадает, и сигналы с образца 9 контролируемого материала поступают непосредственно на вход уси лителя 5.

Благодаря выбору иэ спектра возбуж денных колебаний собственных поперечных типов колебаний образца.1 контроли руемого материала, имеющих болыиую по сравнению с продольными типами колебаний амплитуду и лежащими в узкой полосе частот, достигается повышение чувствительности известного способа к наличию и величине микронеосшородностей внутренней структуры и повышение обьема получаемой информации.

Способ контроля качества материалов осуществляется следующим образом.

Акустические колебания в образце 9 контролируемого материала возбуждают с помошью лазера 2, излучение которого фокусируется линзой 3. Сканирующий блок 30

4 перемещает пьезоприемник 1 Ю образ цом 9 контролируемого материала, лежащим нв его поверхности, относительно положения фокуса измерения лазера 2.

Возбужденные в образце 9 контролируе35 мого материала поперечные колебания воспринимаются пьезоприемником 1, электрический сигнал с которого поступает на вход усилителя 5 и после усиленияна вход перестраиваемого полосового фильтра 6, предназначенного для измерения частоты возбужденных акустических колебаний. Сигнал с выхода перестраиваемого полосового фильтра 6 поступает нв вход двухкоординатного самописца 7, который управляет сигналами, пропорциональными координате местоположения фокуса излучения лазера 2 на образце 9 контролируемого материала. Осциллограф

8 позволяет измерять амплитуду электри50 ческих сигналов, пропорционалы ую амплитуде акустических колебаний в образце 9 контролируемого материала, a самописс- . 7 — записывать топограммы расФормула изобретения

Способ контроля качества материалов, заключающийся в том, что в образце материала возбуждают акустические колебания с помощью сфокусированного электромагн Итного излучения, регистрируют возбужденные колебания при сканировании точки возбуждения по поверхности контро лируемого образца и по их амплитуде судят о качестве материала, о т л и ч а— ю шийся тем, что, с целью повышения чувствительности и разрешения при обнаруЖении микронеоднородностей внут ренней структуры и объема полученной информации, принимают колебания, частоты которых соответствуют собственным поперечным колебаниям образца, а о наличии и величине микронеоднородностей внутренней структуры судят по изменению среднего значения амплитуды принятых акустических колебаний.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. " М сй е г 1а О Е ч с1 С о О о н ", 18 7 1, Я Ц, рр. 18 -489.

2. Патент США No 3978.713, кл. @01 N 29/04, 07.08.76 (прототип).

938 140 Составитель К. Леонов

Редактор А. Коэориз Техред E.Õàðèòîí÷èê Корректор А.ференц

Заказ 4450/66 Тираас 887 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений. и откраимй

1 13 035р Москваэ Ж 35в Раун скан набе. д, 4/5 филиал ППП Патент,.-г. Ужгород, уи. Проектная, 4