Способ определения диаметра электронного пятна в электролучевых трубках с высокой разрешающей способностью

Способ определения диаметра электронного пятна в электролучевых трубках с высокой разрешающей способностью

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советских

Социалистических рес у

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕН MR

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

<1ц 942185 (В! ) Дополнительное к авт. свид-ву(22)Заявлено 03.11,80(21) 2999578/18-21 с присоединением заявки М (2З) Приоритет

Опубликовано 07.07.82. Бюллетень № 25

Дата опубликования описания 07 07.82 (51)М. Кл.

Н 01 J 9/42

9кудвративай кеетет

СССР ав дмаи «м4ретенвя к втхрытвв (53) УДК 537.533, .331(088,8) М,И.Резник, С.Л.Горелик, И.И Вовчик и Т,М.Дужий (72) Авторы изобретения (7l ) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИАМЕТРА ЭЛЕКТРОННОГО

ПЯТНА В ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ТРУБКАХ С ВЫСОКОЙ

РАЗРЕШАЮЩЕЙ СПОСОБНОСТЬЮ (2 .

Изобретение относится к измерения параметров электроннолучевых трубок (ЭЛТ) с высокой разрешающей способ ностью и индикаторньк устройств на их основе.

Известны различные способы анализа электронного пятна в ЭЛТ, основанные на визуальном наблкдении, например, с помощью оптических инструментов 11) .

Такие способы обладают низкой точностью и дают субъективную оценку.

Наиболее близким к предлагаемому цо технической сущности, является способ определения диаметра пятна в ЭЛТ, включакхций,фокусировку пятна, сканирование, импульсную мсдуляцию, преобразование светового изображения в:электрический сигнал, региструемый на осциллографе.

ПО этому способу анализ пятна произво» дят по увеличенному с помощью обьектн- 20 ва изображению пятна, спроецированного на диафрагму с отверстием, диаметр которого много меньше изображения пятна

Такой способ хотя и позволяет обьектнвно оценивать диаметр пятна, но для своей реайиэации требует специальных. преобразовательных устройств, которые в свою очередь, вносят дополнительные .искажения и снижают точность измерений.

Бель изобретения - повышение точности измерений.

Указанная цель достигается тем, что в способе определения диаметра пятна

ЭЛТ с высокой разрешающей способностью, включающем фокусировку пятна на экране, покрытом люминофором, сканирование, импульсную мсдуляцию, преобразование светового изображения в электрический сигнал и измерение времени переходного процесса t, укаэанное иэмеи рение времени переходного процесса tq осуществляют от момента начала возгорания люминофора до момента установления стационарного уровня сигнала, а диаметр пятна д определяют по формуле: д it„v где y - скорость сканирования.

Источники информации, принятые во внимание прн экспертизе

l. Гдалин В.С. Измерение параметров телевизионных передающих и приемных трубок, И.,"Советское радио", 1978, с. 188, 2. Baodor А. ЕУКеСЫчЕ Spot S„. e

М Beam scatnnhacg Tubers ЗВЮРТЕ., 1960 69 Ж 10 (прототип).

3 9421

Способ основан на явлении насыщения центров свечения люминофора или обратимом утомлении, имеющим место в ЭЛТ с высокой разрешающей способностью и высокой плотностью электронов в пучке.

На фиг. 1 показана зависимость напряжения на выходе преобразователя светового иэображения (ФЭУ) от времени (нмпульсная характеристнка)3 на фнг. 2семейство кривык распределения яркости 10 на входе в ФЭУ.

В предпагаемом способе осуществляют импульсную модуляцию сканируемого пятна путем подачи прямоугольного импульса между катодом и модуцятором ис- следуемой ЭЛТ, что вызывает появление нестационарного процесса насьпцения центров свечения (утомпення) люминофора.

Далее измеряют временный интервал 1, (фнг. 1) снгнапа, просматриваемого с 20 помощью осциллографа, на выходе ФЭУ от момента начала возгорания люминофора до момента установления стационарного уровня сигнапа Скорость сканирования пятна выбирают, как и в случае анапиза диафрагмы небопьшой. Последнее необходимо дпя исключения впияния после свечения на измеряемый интервал времени Е . Кроме того, явление насыщения центров свечения проявпяется в большей 30 степени на низкочастотных развертках (100 Гц и ниже). Попученное значение, Koropoe представпяет время;: в течение которого пятно проходит расстояние, равное половине диаметра пятна (дпя бопьшинства законов распредепения в луче), позволяет по известной скорости сканирования определить диаметр пятна цо приведенной выше формуле.

Ю

В основе появления на импульсной характеристике участка с временем 1 и лежат следующие факторы.

Каждому моменту времени подсвечивающего импульса (кривая 1} соответствует свое положение пятна, что иплюстрируется кривыми 2.3,4,5,6 (фиг. 2).

Точки на оси абсцисс Х есть неподвижные точки пюминофора, сканируемые пространственным распредепением эпектронов в луче. При этом каждая ордината осциллограммы в течении t> и дапее нредставпяет собой дпя каждого момента времени ннтеграп распределения яркости в пятне с соответствующими пределами интегрировании (кривые 2,3,4,5, 5$

6 на фиг. 2)

Время г, появляется в результате того, что электронный луч коммутирует

85 ф неподвижные точки люминофора все вре мя различными точками своего сечения.

Прн этом только на участке g про« исходит изменение интеграла распредепения яркости в пятне прн его передвижении. (если это передвижение происходит достаточно медпенно).

Точка перегиба на импульсной характеристике (кривая l) свидетельствует о появлении точек пюмннофора, находящихся в одинаковых условиях с точкой пюмннофора наиболее утомленной и лежащей на участке нестационарного процесса, а области перегиба от неустановнвшегося процесса к .установившемуся соот» ветствует время прохождения пятном своего полудиаметра.

Дпя сканирования пятна может быть применена н круговая разверстка, при этом в расчетной формуле добавляется лишь нормировочный множитель.

В целом предпагаемый способ более прост в реапизации по сравнению с известным, обладает повышенной точностью, а также может быть испопьзован для измерений в ЭЛТ с вопоконно-оптическими экранамн.

Формула изобретения

Способ определения диаметра электронного пятна в электроннолучевых трубках с высокой. разрешающей способностью, включающий фокусировку пятна на экране, покрытом люминофором, сканирование, импульсную модуляцию, преобразование светового иэображения .в электри.ческий сигнап н измерение времени переходного процесса Ь0, о т л н ч аю шийся тем, что, е ценью повышения точности, измерение- времени переходного процесса tg осуществляют от момента возгорания люминофора до момента установпення стационарного уровня сигнала, а диаметр пятна 3 определяют по

a=a v

П где Ч - скорость сканирования.

6 tg t

Составитеа В.Гаврюшин

Редактор И.Тыкей Текред М. Надь Корректор Л. Бокшан

Заказ 4856/48 Тираж 761 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР ло делам иэобретений и открытий

11303. ъ" Москва, Ж-35, Раушсхая наб„д. 4/5....

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектнан, 4