Способ измерения длительности переходных процессов в системах отклонения электронно-лучевых трубок

Способ измерения длительности переходных процессов в системах отклонения электронно-лучевых трубок

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советскии

Социалистически«

Республик

О П И С А Н И Е (»)951478

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6! ) Дополнительное к авт. санд-ву (p ®с 48у (22)Заявлено 10.11.80 (21) 3004350/18-21 с присоединением заявки М (23) Прноритет(5! )М. Кл.

Н 01 Õ 31/00

@еударетее««ьй кемитет

СССР аа делам «зееретеиий

«открыт«« (53) УДК 681.11 (088.8) Опубликовано 15.08.82. Бюллетень Мт 30

Дата опубликования описания 1 5 . 08,82

1 ;, А. M. Кубилис, Ю. И. Полесский и А. И; Янулявичюс:-,::.

4 . . - .r. Ä с ) .-=« / (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДЛИТЕЛЬНОСТИ ПЕРЕХОДНЫХ

ПРОЦЕССОВ В СИСТЕМАХ ОТКЛОНЕНИЯ

ЭЛЕКТРОННОЛУЧЕВЫХ ТРУБОК ки 1 1.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании процессов отклонения.

По основному авт.св.tp 699487

5 известен способ измерения длительности переходных процессов в системах отклонения электронных пучков электроннолучевых трубок заключающийся в том, что предварительной регулировкой величин:управляющих сигналов в статическом режиме устанавливают требуемые параметры следа электронного пучка на экране электроннолучевой трубки (ЭЛТ), послет чего подают в исследуемые цепи управляющие сигналы в виде периодических импульсов прямоугольной фор" мы, причем длительность импульсов устанавливают большей ожидаемой 20 длительности переходного процесса, а амплитуду, равной значению, установленному в статическом режиме, электроннолучевую трубку отпирают периодическими импульсами, длительность которых меньше длительности импульсов управляющих сигналов с задержкой относительно их передних фронтов, увеличивают задержку и при достижении значения параметра, установленного в статическом режиме, длительность переходного процесса принимают равной значению задержОднако на экране ЭЛТ не видно следа электронного пучка соответствующего установившемуся режиму, а для установки микроскопа в это положение требуется специальная операция, по указанной причине нет возможности проверить, как точно во время измерения визир микроскопа совпадает с положением следа электронного пучка в установившемся режиме, а в случае их взаимного смещения в течение времени измерения (например, из-за гулировкой источника 21 фокусируют неотклоненный луч, после чего переключателями 12, t 3 и 14 подключают входы ключей 15, 16 и 17 к шине опор ного напряжения. При этом ключи 15, 16 и 17 осуществляют подключение источников 18, 19 и 20 к катушкам отклоняющей системы 8 и системы

9 динамической фокусировки. Регули-

- ровкой тока источникоei 18 и 19 обеспечивается отклонение луча s заданную точку экрана ЭЛТ, а регулировкой тока источника 20 фокусируют отклоненный луч. Регулировкой источника 28 устанавливается такое напряжение на модуляторе ЭЛТ, при. котором в промежутках между отпирающими импульсами не происходит полного эапирания луча. Отпирание ЭЛТ осуществляют периодическими импульсами, формируемыми формирователем 23 импульсов подсвета, работа которого синхронизирована генератором 11 прямоугольных импульсов, при этом на экране наблюдаются три светящие точки (фиг.1 ). Механизмом 25 перемещения устанавливают микроскоп 24 таким образом, чтобы точка 5, соответствующая установившемуся режиму переходного процесса, оказалась в центре поля зрения микроскопа 24.

Увеличивая задержку при помощи элемента 22 задержки, наблюдают за пере- мещением световой точки 6, которая при увеличении задержки передвигается к точке 5.

По показаниям шкалы элемента 22 задержки определяют длительность переходного процесса отклонения, которая соответствует тому значению задержки, при которой передвигающаяся точка бприблизится к точке 5, состветствующей положению пучка в установившемся режиме с заданной . точностью, а отклонение от этого положения при дальнейшем увеличении задержки не увеличивается.

Применение способа обеспечивает сокращение времени измерения длительности переходных процессов в цепях отклонения более чем в 3 раза

3 95147 нестабильности измерительной аппаратуры или случайного сбоя микроскопа) достоверность результатов измерений снижается.

Цель изобретения - сокращение

5 времени, повышение точности, а .также удобства и достоверности измерений.

flocTBBRpHHGR цель достигается тем,что согласно способу в интер- 10 валах между периодическими импульсами отпирания луча устанавливают режим частичного отпирания лу. ча ЭЛТ. След электронного луча, соответствующий импульсу отпирания, 15 совмещают са следом электронного луча, соответствующим установившемуся значению процесса отклонения, а длительность переходного процесса определяют по времени задержки импульса отпирания электронного луча.

На фиг.1 представлены эпюры: управляющего сигнала в исследуемой цепи 1, импульса и подсвета, задержанного на время no отношению к

25 началу управляющего сигнала, переходного процесса в цепи 3 отклонения, а также изображения светового пятна, соответствующие неотклоненному положению пучка 4, устано=

30 вившемуся значению отклоненного пучка (точка Я и положению пучка в момент времени. соответствующий импульсу отпирания пучка (точка 6 ).

На фиг.2 представлена структурная схема установки, реализующей описанный способ.

Установка содержит электроннолучевую трубку 7, содержащую отклоняющую систему 8, систему 9 динамической фокусировки, систему 10 статической фокусировки, генератор 11 прямоугольных импульсов, переключатели 12, 13 и 14, электронные ключи 15, 16 и 17, регулируемые источники

18-21 тока, регулируемый элемент 22 задержки, формирователь 23 импульсов подсвета, микроскоп 24, механизм

25 перемещения микроскопа, шину 26 нулевого потенциала, шину 27 опорного напряжения и регулируемый источник

28 напряжения.

3, 4 темй 9 динамической фокусировки. РеПри реализации способа переключателями 12, 13 и 14 подключают входы ключей 15, 16 и 17 к шине 26 нулевого потенциала. При этом выходы источников 18, 19. и 20 тока отключают от отклоняющей системы 8 и сиси исключает погрешности обусловленные неточностью установки микроско55 па.

Формула изобретения

Способ измерения длительности переходных процессов в-системах

5 9 отклонения электроннолучевых трубок по авт .св. Ю 699487, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью сокращения времени и повышения точности измерения в цепях отклонения, в интервалах между периодическими импульсами отпирания луча устанавливают режим частичного отпирания луча электроннолучевой трубки, след электронного луча, соответствующий импульсу отпирания, совмещают со следом

51473 электронного луча, соответствующим установившемуся значению процесса отклонения, а длительность переходного процесса определяют по времени задержки импульса отпирания электронного луча.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе о 1. Авторское свидетельство СССР

N 699487, кл. G 04 F 13/00, 1978.