Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная

Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями,одна из которых прозрачная

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ(954812

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Соаетскик

Социапистическик

Республик (6l ) Дополнительное к авт. саид-ву

Ф (22) Заявлеио 09.02.81 (21) 3245382/25 28 (51) М. Кл.

6 01 В 11/14 с присоединением заявки № евоудоротоииво комитет

° СССР ао долом взооретений и открытий (23) Приоритет

Опубликовано 30.08.82. Бюллетень № 32

Дата опубликования описаиия 30.08.82 (53) УДК 531.715.

1(088.81 (72) Авторы изобретения

А. И. Аугустайтис, Л.-Л. Ю. Маченис и

Специальное конструкторское бюро вычи (71) Заявитель слртельныХ. машин, « ««(54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ ЗАЗОРОВ

МЕЖДУ ДВУМЯ ПОВЕРХНОСТЯМИ, ОДНА ИЗ КОТОРЫХ ПРОЗРАЧНАЯ

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для измерения малых зазоров между двумя поверхностями, в частности для измерения динамическото неконтакта между магнитной головкой и поверхностью диска.

Бель изобретения — обеспечение измерения зазоров между поверхностями различной формы.

Указанная цель достигается тем, что устройство снайкено. вторым светоделителем, расположенным на пути отраженного от первого светоделителя светового потока и делящим свеговой поток на две ветви, двумя светофильтрами для пропускания световых потоков определенных частот, каждый из которых расположен в одной из зтих ветвей, а в качестве осветителя использован источник света излучающий световой поток не менее двух определенных частот.

На чертеже изображена принципиаль-, ная -схема устройства для измерения ма-. лых зазоров между двумя поверхностями, одна из которых прозрачная. . Устройство содержит последовательно

5 расположенные осветитель 1 — источник света, излучакяций световой поток, не менее двух определенных частот, т.е. полихроматический световой поток, первый светоделитель 2, второй светоделитель 3, светофильтры 4 и 5 для лропускания световых потоков определенных частот и блок регистрации интенсивности световых потоков, включаклций фотодетекторы 6 и 7 и двухканальный осциллограф 8.

Устройство работает следующим образом.

Излучаемый источником света полихро2о матический световой поток проходит через первый светоделитель 2 и направляется на измеряемый зазор, образуемый поверхностями 9 и 10. Отраженные етыми поверхносгями интерферируюшие лучи

3 9848 первым светоделителем 2 направляются на второй светоделитель 3, который направляет их через светофильтры 4 и 5, каждый из которых пропускает свет определенноф частоты на фотодетекторы

6 и 7. Сигналы от фотодетекторов 6 и

7 поступают на двухканальный осциллограф 8. Зарегистрированные моментные величины световых потоков являются исходными данными для определения по IQ известному алгоритму абсолютной моментной величины зазора. в точке падения луча от источника света.

Так как на измеряемый зазор направляется вместо двух лучей один луч света, то Is ошибка из-за разной. длины их оптических путей в зазоре исключается полностью.

Следовательно, форма поверхностей, образукяцих зазор, не оказывает никакого влияния на точность измерения.

12 ф

Формул а изобретения

Устройство для измерения малых зазоров между двумя поверхностями, одна из которых прозрачная, содержащее последовательно расположенные осветитель, светоделитель и блок регистрации интенсивности световых потоков, о т л и ч а— ю щ е е с я тем, что, с целью измерения зазоров между поверхностями раз:личной формы, оно сна@кено вторым све.тоделителем, расположенным на пути от1 раженного от первого светоделителя светового потока и делящим световой поток на две ветви, двумя светофильтрами для пропускания световых потоков определенных частот, каждый из которых расположен в одной из этих ветвей, а в качестве осветителя использован источ.ник света, излучаквций световой поток не менее двух определенных частот

ВНИИПИ Заказ 6412/41

Ти раж 614 Подписное

Филиал ППП 4 Патент, г. Ужгорол,ул. Проектная, "4