Устройство для измерения двулучепреломления

Устройство для измерения двулучепреломления

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОП ИСАНИ Е

ИЗОБРЕТЕН ИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

„„958871

Союз Советских . Социалистических

Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 27.02.81 (21) 3253302/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. К .

G 01 J 4/04.Гвсударстееиимй кемитет (53) УДК 535.511 (088.8) Опубликовано 15.09.82. Бюллетень № 34

Дата опубликования описания 25.09.82 по делам иэобретеиий и втирмтий

P. К. Овсепян, В. С. Бабаян и Э. В. Барсегян (72) Авторы изобретения

Институт физических исследований АН Армянской (71) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО Д,ЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДВУЛУЧЕПРЕ,ЛОМЛЕНИЯ

Изобретение относится к оптике кристаллов и может быть использовано при исследовании эффекта фоторефракции в кристаллах, предназначенных для голографии, а также при исследовании однородности двулучепреломляющих кристаллов.

Известно устройство измерения двулучепреломления при помощи компенсатора (1).

Однако данное устройство характеризуется низким быстродействием.

Наиболее близким к предлагаемому является устройство . для измерения двулучепреломления, содержащее расположенные по ходу луча лазер, держатель исследуемого кристалла, анализатор и фотоприемник (2).

Недостатком его является низкое быстродействие измерений

Цель изобретения — повышение быстродействия измерений.

Цель достигается тем, что в устройство для измерения двулучепреломления, содержащее расположенные по ходу луча лазер, держатель исследуемого кристалла, анализатор, фотоприемник, между держателем исследуемого кристалла и а нализатором размещен электрооптический кристалл, и в устройство дополнительно введены источник переменного напряжения, формирователь сигналов, измеритель временных интервалов,,при этом фотоприемник подключен к формирователю сигналов, электрооптический кристалл подключен к источнику переменного напряжения, формирователь сигналов подключен к измерителю временных интервалов, второй вход которого подключен к источнику переменного напряжения.

На чертеже представлена структурная схема устройства.

Устройство содержит лазер 1, держа1s тель исследуемого кристалла 2, электрооптический модулятор 3, анализатор 4, фотоприемник 5, формирователь сигналов 6, измеритель временных интервалов 7 и генератор переменного на пря же ни я 8.

Устройство работает следующим образом.

Световой поток от лазера 1, поляризованный вдоль вектора С, распадается в анизотропном кристалле 2 и далее в электрооптическом элементе 3 на волны, поля958871

Формула изобретения

Составитель В. Котенев

Редактор Н. Киштулинец Техред А. Бойкас Корректор М. Шароши

Заказ 6770/55 Тираж 887 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

I 13035, Москва, Ж вЂ” 35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП «Патент>, г. Ужгород, ул. Проектная, 4 ризованные вдоль Х и У. На выходе элементов волны оказываются сдвинутыми по фазе друг относительно друга на 1 = 91 + г 1 где P< — фазовый сдвиг, в .кристлле

p — фазовый сдвиг в модуляторе 3. Выг ходной анализатор пропускает только компоненты волн параллельно С. Сдвинутые по фазе комноненты волн интерфируют.

Рассмотрим систему, в которой на электрический вход модулятора подается синусоидальное напряжение с амплитудой.

U = Ua Sin ь1t (1)

Можно получить, что придаточная функция системы будет иметь вид — = ып — - . " sin д1 (2)

Таким уравнением описывается сигнал, полученный с выхода фотодиода. ,На частотомер, работающий в режиме измерения временных интервалов, .подаются два сигнала: один — эталонный, т. е. синусоида от блока питания, другой — с форыирователя сигналов, состоящего из 20 дифференцирующего усилителя и триггера

Шмидта с нулевым порогом; На вход формирователя подается сигнал с фотодиода, на выходе получает сигнал со емешанным на

0,5 нулевым уровнем. Частотомер запускается от переднего фронта синусоиды и оста25 навливается от переднего фронта следующего импульса сигнала с формирователя импульсов, т. е. выдает время запаздывания одного еигнала по сравнению с другим, из которого по уравнениям (1) и (2) можно определить фазовый сдвиг в исследуемом кристалле.

Время, необходимое для определения фазовой расстройки, 0,02 с и зависит от частоты напряжения, подаваемого на модулятор. Отказ от механических передвигающихся частей выгодно отличает предлагаемое устройство .от прототипа тем, что значительно уменьшает время определения фазовой расстройки, а также ввиду отсутствия какой-либо механики повышает надежность работы схемы. Предлагаемое устройство.значительно проще прототипа, так как отпадает необходимость в системе слежения.

Устройство для измерения двулучепреломления, содержащее расположенные по ходу луча лазер, держатель исследуемого кристалла, анализатор, фотоприемник, отличаюи4ееся тем, что, с целью повышения быстродействия измерений, между держателем исследуемого кристалла и анализатором размещен электрооптический кристалл, и в устройство .дополнительно введены источник переменного напряжения, формирова-. тель сигналов, измеритель временных интервалов, .при этом фотоприемник подключен к формирователю сигналов, электрооптический кристалл подключен к источнику переменного напряжения, формирователь сигналов .подключен к измерителю временных интервалов,,второй вход которого подключен к источнику переменного напряжения.

Источники инфорыации, принятые во внимание при экспертизе

1. Меланхолии Н. М. Методы исследовавания оптических свойств кристаллов. М., «Наука», с. 14 — 15.

2. Изв. АН,Латвийской ССР, Сер. физ-тех. наук, 197б, № 3, с. 114 — 117.