Способ изготовления образцов для дефектоскопов

Способ изготовления образцов для дефектоскопов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

<»>962801 (61) Дополнительное к авт. свиа-ву— (22) Заявлено 170381 (21) 3260820/25-28 с присоединением заявки М— ($g) М К 1 3 ! G. 01 N 27/90

Государственный комитет

СССР по делам изобретений и открытий (23) Приоритет—

Опубликовано 30.0982, Бюллетень Мо 36 (531УДК 620.179..14(088.8) Дата опубликования описания 300982 (72) Авторы изобретения

В.Л. Анохов, В.С. Власов, Е.И. Зарапин, Н.И. Кудряшов, В.Ф. Мужицкий и A.Ã. Ше (71) Заявитель

Научно-исследовательский институт интр (54 ) СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕН ИЯ ОБРАЗЦОВ

ДЛЯ ДЕФЕКТОСКОПОВ

15

25

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для калибровки дефектоскопичес- кой аппаратуры.

Известен способ изготовления образцов для дефектоскопов, заключавшийся в том, что один или несколько металлических брусков располагают на подложке так, чтобы их поверхности соприкасались (1 )..

Недостаток известного способа заключается в низких метрологических характеристиках изготовленных образцов, что связано с существенным отличием их параметров от параметров естественных трещин.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ изготовления образцов для дефектоскопов, заключающийся в том, что выполняют риску на заготовке, нагружают последнюю в направлении, перпендикулярном прорезям, и снимают механическую нагрузку по достижении требуемых параметров дефекта. Г2 3.

Недостаток способа состоит в невозможности изготовления образцов для дефектоскопов крупногабаритных изделий трубного и прокатного производства.

Цель изобретения — изготовление образцов для дефектоскопов крупногабаритных изделий трубноГо и прокатного производства.

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу изготовления образцов для дефектоскопов, заключающемуся в том, что выполняют риску на заготовке, нагружают последнюю и снимают механическую нагрузку по достижении требуемых параметров де-. фекта, заготовку перед нагружением нагревают до пластической деформации последней, а нагружают заготовку продольно-поперечным обжатием.

Способ реализуется следующим образом.

На поверхности заготовки наносит ся риска заданных размеров (ширина, глубина, протяженность). Затем заготовку нагревают до температуры, необходимой для пластической ДефоРмации, после чего подвергают калиброванному продольно-поперечному на- .— гружению, например протягивают в валках или фильерах. При этом металл как бы "течет" в двух направлениях:. вдоль и поперек рисок. Зная

962801

Составитель П. Шкатов

Техред С.Мигунова Корректор А. Ференц

Редактор .С. Юско

Эаказ 7498/62 Тираж 887 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений.и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная, 4 усилия, прикладываемые при обработке заготовки, выбирая глубину, раскры" тие, длину и угол наклона к поверхности изделия, можно получить дефекты оцределенной глубины, протяженности, раскрытия и угла наклона к поверхности образца.

При предлагаемом способе изготовления стенки искусственных дефектов, прилегающая к дефекту зона имеет структуру такую же как и при наличии 10 естественного дефекта. Изготавливать такие дефекты можно практически на всех изделиях прокатного, трубного волочильного производства независимо от веса и габаритов. Кроме того, .15 параметры дефектов (глубина, раскрытие,угол наклона )можно прогнозировать.

Формула изобретения

Способ изготовления образцов для дефектоскопов, .заключающийся в том, что выполняют риску на заготовке, нагружают последнюю и снимают механическую нагрузку до достижении требуемых параметров дефекта, о т— л и ч а ю шийся тем, что, с целью изготовления образцов для дефектоскопов крупногабаритных изделий трубного и прокатного производства, заготовку перед нагружением нагревают до пластической деформации последней, а нагружают заготовку продольно-поперечным обжатием.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Патент США Р 3582772, кл. 501 R 33/12,. 1971.

2. Авторское свидетельство СССР

Р 714265, кл. 5 01 N 27/90, 1980 (прототип).