Способ определения вязких и упругих свойств жидких кристаллов
Патент 970207
Авторы
Классы МПК
Способ определения вязких и упругих свойств жидких кристаллов
Иллюстрации
Реферат
с
М.М.Анисимов, Э. В.Геворкян и А.С.ЛагунЬв - ., Е.
В
Всесоюзный заочный машиностроительный институт ° (22) Авторы изобретения (21) Заявитель (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЯЗКИХ И УПРУГИХ
СВОЙСТВ ЖИДКИХ КРИСТАЛЛОВ
Изобретение относится к физико-химическим измерениям и может быть исполь-. зовано в приборостроении, химической, электронной"и часввой промышленности.
Известен способ определения вязких и пругих свойств жидких кристаллов, за лючающийся в том, что располагают, жидкий кристалл в пульсирующем магнитном поле, измеряют диэлектрическую Пронинаемость и по ней .судят о вязких и упругих свойствах жидкого кристалла.
Недостатком способа является низкая точность измерений, обусловленная проводимостью жидких кристаллов.
Наиболее близким по технической сущности к изобретению является способ апре деления вязких и упругих свойств жидких кристаллов, заключающийся в том, что располагают жидкий кристалл в пульсирующем магнитном поле, измеряют анизотроаный параметр ориентированного на поверхности жидкого кристалла и по измеренному параметру судят о свойствах жидких кристаллов.
При прохождении монохроматического света через скрещенные поляроиды и стек лянные пластины, между которыми находится жидкий кристалл, помещенный в пульсирующее магнитное поле, возникают коноскопические полосы. Прн включении и выключении магнитного поля происходит смещение этих полос, по величине кото- рой судят î вязких и упругих свойствах. жидких кристаллов.
Недостатком этого способа является низкая точность измерения малых смещений .полос, а также сложность измерения, обусловленная быстрым увеличением рассеяния света на флуктуапиях директора при увеличении толщины жидкого apgoталла.
Бель изобретения - повышение точнооти и упрощение пропесса измерения.
Бель достигается тем, что возбуждают в жидком кристалле ультразвуковы.в автоколебания и используют их частоту в качестве анюотропного параметра.
207
3 970
На чертеже изображена принципиальная схема устройства, реализующего определения вязких и упругих свойств жидких крис таллов.
Устройство содержит два расположен ных напротив друг друга приемный 1 и излучающий 2 пьезопреобраэователи, усилитель 3, вход которого соединен с приемным пьеэопреобразователем 1, а выход - с излучающим пьезопреобразователем 2, последовательно соединенные. с усилителем 3 частотомер 4 и регистрирующий блок 5, электромагнит 6 и регулируемый источник 7 напряжения. Позицией 8 обозначен слой жидкого кристалла. . Способ определения вязких и упругих свойств жидких кристаллов заключается, в том, что располагают слой 8 жидкого кристалла в пульсирующем магнитном поле, создаваемого электромагнитом 6, сое диненным с регулируемым источником 7 напряжения.
В замкнутой системе, состоящей из усилителя 3 и цепи положительной обратной связи, включающей пьезопреобразователи 1 и 2 и слой 8 жидкого кристалла, возбуждают ультразвуковые автоколебания, частота которых измеряется частотомером 4 и фиксируется регистрирующим блоком 5. При включении магнитно- го поля электромагнита 6 происходит изменение ориентации молекул слоя 8 жидФормула изобретения
Способ определения вязких и упругих о свойств жидких кристаллов, заключающийся в том, что располагают жидкий кристалл в пульсирующем магнитном поле, измеряют анизотропный параметр ориентированного на поверхности жидкого кристалла и по измеренному параметру судят о свойствах жидких кристаллов, о т л и ч а юшийся тем, что, с целью повышения точности и упрощения процесса измерения возбуждают в жидком кристалле ультрао звуковые автоколебания и используют их частоту в качестве аниэотропного параI метра.
Заказ 8377/52
Подписное
Патент", r.Óæãoðoé, уп. Проектная, 4 кого кристалла, что приводит к изменению ! скорости ультразвука, а следовательно, и частоты автоколебаний, По временной зависимости частоты автоколебаний определяют коэффициенты вязкости, а по величине порогового магнитного поля — модули упругости Франка.
Таким образом, возбуждение ультра,звуковых автоколебаний в жидком криь1Î талле, помещенном в пульсирующее магнитное цоле, позволяет повысить точность измерений вязких и упругих свойств жидких кристаллов и дает воэможность измерять вязкие и упругие свойства непрозрачных жидкик кристаллов.