Способ определения чистоты поверхности методом сравнения исследуемой поверхности с образцом

Способ определения чистоты поверхности методом сравнения исследуемой поверхности с образцом

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 42b, 12as

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Я, АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

В. И. Саркин

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧИСТОТЫ ПОВЕРХНОСТИ МЕТОДОМ

СРАВНЕНИЯ ИССЛЕДУЕМОЙ ПОВЕРХНОСТИ С ОБРАЗЦОМ

Заявлено 22 мая 1952 г. за _#_e 47/243/447013 в Комитет по делам мер и измерительных приборов при Совете Министров СССР

Существующие пр иборы, служащие для определения чистоты поверхности методом визуального сраннени я с образцами, чистота поверхности которых аттестована, основаны на приленении оптических систем, с помощью которых наблюдатель может расаматривать однавременно, путем яаблюдения в о ди н окуляр, увеличенные изображения сравн иваемых поверхностей. Но с помощью таких приборов невозможно осущеcTBHTb сравнение весьма чистых поверхностей, поскольку глаз наблюдателя, даже с помощью такого прибора, не отличит поверхность более низкого класса от пов ерхноспи более высокого класса.

Сущность изобретения состоит в том, что предлагается сопоставлять не сами поверхности, а изображения интерференц ионных картин сравниваемых поверхностей.

На фиг. 1 да на схема прибора для осуществления предлагаемого способа определения чистоты поверхно"ти; на фиг. 2 — поле зрения окуляра.

Две одинаковые микроинтерференционные системы Линника образуют на поверхностях образца а и контролируемой детали б ин терференцианные картины, изображения которых сводятся через систему призм в поле зрения окуляра.

Сопоставляемые детали — а — образец чистоты и б — подлежащая контролю деталь — устана вли ваются в приборе, состоящем из источников света в, эталонных зер1кал г, кубиков с полусеребряной гранью д, объективов е, ромбоидальных призм ж, окулярной приамы з и окуляра и.

Предмет изобретения

1. Способ определенная чистоты поверхноспи методом сравненмя исследуемой поверхности с образцом, отличающийся тем, что, с .целью

Уе 97370 сравнения поверхностей более высоких классов, одновременно сопоставляют изображения интерференц ионных картин сравниваемых поверхностей.

2. Для осуществления способа по п. 1 применение двух микроинтерференционных систем Л ин н ика и оптической системы, сводящей изображения в адин окуляр. григ. с1>иг

Ко..дитет по делам изобретений и открытий прн Совете Министров СССР

Редактор Е. Г. Гончар

Поди. к печ, 20/XII-!958 г

Тираж 360. Цена 25 коп.

АССР.

Информационно-издательский отдел.

Объем 0,17 и. л. Заказ 2436

Гор. Алатырь, типография ¹ 2 Министерства культуры Чунашскои