Способ определения толщины слоя двухслойного изделия

Способ определения толщины слоя двухслойного изделия

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

(72) Автор изобретения

В. И. Мироненко

Центральный научно-исследовательский институт и технологии тяжелого и транспортного машиностроения (71) Заявнтель (5Ц) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ

ДВУХСЛОЙНОГО ИЗДЕЛИЯ

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано для определения толщины слоя двухслойного материала.

Известен способ определения толщины слоя двухслойного материала, основанный на изиерении вреиени прохождения ультразвука, вводимого под углом к границе раздела 11).

Его недостаткои является низкая достоверность результатов определения границы раздела иатериалов с близкиии акустическими свойствами, обусловленная тем, что амплитуда эхо-сигнала от границы раздела сравнима с амплитудой ложных помех.

Наиболее Чзлизкии по технической сущности к предлагаемому является способ определения толщины слоя двухслой- ного изделия ° заключающийся В том что прозвучивают изделие в направлении, перпендикулярном границе раздела слоев, и по вреиени распространения ультразвука судят о толщине ? .

Недостатком этого способа является низкая достоверность определения толщины слоя для материалов, акустические свойства которых различаются менее чем в 1,2 раза, обусловленная теи, что амплитуда эхо-сигнала в этом случае имеет незначительную величину и сравнима с амплитудой помех.

Цель изобретения - повышение достоверности определения толщины слоя для материалов, акустические свойства которых различаются менее чем в

1,2 раза.

Поставленная цель достигается тем, что производят дополнительное иэмерение толщины изделия любым методом и определяют толщину слоя иэ условия где h - толщина измеряемого слоя, мн;.

С вЂ” скорость ультразвука в материале измеряемого слоя,мм/с;

3 97425

С, - скорость ультразвука в материале второго слоя, мм/с;

Н,4 - толщина изделия, определенная по времени распространения ультразвука, мм; 5

Н - толщина иэделия, измеренная не ультразвуковым методом, мме

На чертеже изображена принципиаль.ная схема устройства, реализующего предлагаемый способ.

Устройство содержит электрически связанные между собой преобразователь ультразвуковых колебаний и регистратор 2. Позицией 3 обозначено 15 контролируемое двухслойное изделие.

Сущность способа определения тол-. ,щины слоя двухслойного изделия заклю чается в следупцем.

На испытываемое двухслойное изде- © лие 3 устанавливается преобразове тель 1 ультразвуковых колебаний, прозвучивают его в направлении, перпендикулярном границе раздела слоев, и определяют суммарную толщину 41,4 двух- 5 слойного иэделия с помощью регистратора 2, настроенного на скорость ультразвука в материале одного из слоев.

Далее производят измерение суммарной толщины изделия Н любым дру- ЗО гим не ультразвуковым методом, например .с помощью штангенциркуля, с точностью не ниже,. чем ультразвуковым методом, а толщину слоя определяют из условия 35 . А 3

С„(Н - Н,)

4л "C2. где h - толщина измеряемого слоя, мм;

С„ - скорость ультразвука в ма- 4@ териале измеряемого слоя, мм/с;

Г " скорость ультразвука в материале второго споя, мм/с;

Н4 - толщина изделия, определен- 45 ная по времени распространения ультразвука, мм;

Н, - толщина изделия, измеренная не ультразвуковым методом, мм.

3 4

Таким образом, благодаря измерению толщины изделия не ультразвуковым методом и нахождению толщины слоя иэ расчетной зависимости повышается достоверность результатов для материалов, акустические свойства которых различаются менее чем в 1,2 раза.

Формула изобретения

Способ определения толщины слоя двухслойного иэделия, заключающийся в том, что прозвучивают иэделие в направлении, перпендикулярном границе раздела слоев, и по времени распространения ультразвука судят о толцине, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности определения толщины слоя для материалов, акустические свойства которых различаются менее чем в 1,2 раза, производят дополнительное измерение толщины: изделия любым методом и определяют толщину слоя из условия

С4(НЯ. - Нм) С„= С толщина измеряемого слоя, мм, скорость ультразвука в материале измеряемого слоя, мм/с, скорость ультразвука в материале второго слоя, мм/с; толцина иэделия, определенная по времени распространения ультразвука, мм; толщина изделия, измеренная не ультоазвуковим методом, мм. где h-С

Н,4

Н

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Неразрушающий контроль металлов и иэделий. Справочник под ред. Г.С.Самойловича. И., "Иашиностроение", 1976, с. 332.

2. Иатериалы УИ Всесоюзной научно-технической конференции по неразрушающим физическим методам и средствам контроля. Кишинев, 1977, с. 589591 прототип .

9?4253

Составитель P. Восканян

Редактор H. Киштулинец Техред М.Телер Корректор И, Ватрушкина

Заказ 66 / 1 Тираж 7 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035 Москва Ж-35 Раяиская наб. л. 4/5 м Л Аю ю\ 4В В 4 ъФ

Филиал ППП "Патент", г. Ужгород, ул. Проектная,