Способ контроля кривизны поверхности изделия

Способ контроля кривизны поверхности изделия

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Союз Советсиик

Социалистические

Республик

ОП ИСАНИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (ii<977951 (6! ) ???????????????????????????? ?? ??????. ????????-???? (22) ???????????????? 19.06.81 (2! 3305991>

Опубликовано 30.11.82. Бюллетень М 44 (5l )M. Кд . (01 В 15/04 феуддретпкай кеиктет

СССР дв делам кеееретеккй и ютерыткй (53) УДК531.715..2(088.8) Дата опубликования описания.30.11.82

Ъ, »»

««.».

1, » 1

1 (72) Авторы изобретения

В. А. Конев и A. А. Квсьяненко«. »

» !, »« ;, . ., »

Институт прикладной физики АН Белорусской CCP- ...-, " " -" з

«-. » (7!) Заявитель (S4) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КРИВИЗНЫ ПОВЕРХНОСТИ

ИЗДЕЛИЯ!

Изобретение относится к измеритель ной технике.

Известен механический контвктный способ контроля кривизны поверхности из- делия, основанный нв мехвническом изме»;

5 рении цврвметров шарового сегмента сферических поверхностей для известного диаметра кольцевой эоны. При атом веаиктцу кривизны (радиус) определяют из геометрических соотношений (1 ).

Однако данный способ требует непосредственного контвктв с контролируемой поверхностью. Это ведет к повреждению поверхности изделия и измерительного инструмента и знвчительному у келичению погрешности измерения.

Наиболее близким к предпвгвемому является способ контроля кривизны поверхности изделия, звключвюптийся в том, что у0 обюфчвют контролируемую поверхность лучам электромагнитной СВЧ волны, принимают отраженное от контролируемой поверхности СВЧ излучение, по парвмет2 рвм которого судят о кривизне поверхнос ти изделия.

Способ основан нв анализе поляриэационных характеристик отраженной от криволинейных поверхностей СВЧ волны.

Абсолютное значение кривизны определяют по грвдуировочным кривым, которые получвют путем тврировки по об% рвзцвм с известной кривизной поверхнос-, ти Г21.

Недостатком известного способа является низкая точность контроля кривизны поверхности, твк квк поляризованные хврвктеристики отраженного сигнвлв зависят твкже от состояния контролируемой поверхности и физических свойств материвпв контролируемого изделия.

Бель изобретения - повышение точности контроля.

Постввленнвя цель достигается тем, что согласно способу контроля кривизны поверхности изделия, звключвнлцемуся в том, что облучвют контролируемую поверхность лучом электромагнитной СВЧ воп3 97795 ны, принимают отраженное от контропируемой поверхности СВЧ изпучение, по параметрам которого судят о кривизне поверхности изделия, периодически модулируют ширину луча эпектромагнитной

СВЧ волны, выдепяют переменную составляюшую отраженного от контролируемой поверхности СВЧ излучения на частоте модуляции ширины его пучка и по парараметрам этой составляющей судит о кри-. 30 визне поверхности изаепия.

На чертеже преаставпена бпок-схема устройства, поясняющая преапагаемый способ.

Устройство содержит генератор 1 1$ электромагнитных СВЧ вопи, подключенный к антенне 2, соединенной с блоком

3 моаудяции, приемную антенну 4, соединенную с детектором 5, подключенному к сепективному вольтметру 6, между 20 антеннами 2 и 4 размещается контролируемая поверхность издепия 7.

Способ осуществляется спедующим образом.

Зпектромагнитное СВЧ излучение от 2$ генератора 1 эпектромагнитных СВЧ вопи подается к антенне 2, которая формирует пуч эпектромагнитной СВЧ водны. Этот луч моаупируется по ширине с помошью бпока 3 модуляции и направпяется на 30 контролируемую повершость изделия 7, Отраженное желъ ромагнитное изпучение от поверхности изаепия 7 попадает в приемную антенну 4. Вспедствие кривизны отражающей поверхности иэделия 7 и модуляции ширины луча эпектромагнитной

СВЧ волны на детектор 5 поступает отраженное электромагнитное СВЧ. излучение, переменная составляющая которого однозначно связана с контропируемой кри-40 виэной. Выделив ее с ° помощью сеаективного вольтметра 6, настроенного на. частоту модупяции ширины пуча, получим сигнал, пропорциональный кривизне контропируемой поверхности изделия 7.

43

Изобретение позвопяет повысить чув-. ствительность и точность контропя кри- . визны за счет уменьшения впияния состо1 ф яния контролируемой поверхности и изменения физических свойств материала объекта контроля, упростить процесс измерения и повысить производительность контроля вследствие замены сложных и трудоемких операций определения азимута и эппйптичности более простой операцией определения одного из параметров, например амплитуды, низкочастотного сигнала. Кроме того, предлагаемый способ может быть осуществлен на серийно выпускаемом отечественном измерительном оборудовании. При этом возможно произ водить контроль метаппических и диэпектрических изделий. формула изобретения

Способ контроия кривизны поверхности изделия, заключающийся в том, что обпучают контролируемую поверхность лучом эпектромагнитной СВЧ войны, принимают отраженное от контролируемой поверхности СВЧ излучение, по параметрам которого судят о кривизне поверхности иэдепия отличающийся тем, что, с целью повьпиения точности контроля, периодически модупируют ширину пуча электромагнитной СВЧ волны, выдепяют переменную составпяюшую отраженного от контропируемой поверхности СЙЧ изпучения на частоте модуляции ширины его пучка и по параметрам этой составпяюшей судят о кривизне поверхности иэделия.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1. Кривовяз Л. М., Пуряев Д. Т., Знаменская М. А., Практика оптической измерительной лаборатории. М., Машиностроение, 1974, с. 140-141.

2. Дубицкий Л. Г. Радиотехнические методы контропя издепий, М., Машгиэ, 1963, с. 57 (прототип).

977951

Составителв Н. Давыдов

Редактор Ю. Ковач Техред М.Коштура Корректор А. Йзятко

Заказ 9199/55 Тираж 614 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР ио делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ППП Патент, г. Ужгород, ул. Проектная, 4