Способ контроля толщины кристаллических пластин для интерференционно-поляризационных светофильтров в процессе их доводки

Способ контроля толщины кристаллических пластин для интерференционно-поляризационных светофильтров в процессе их доводки

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

;1ж с19386

Класс. 42b, 8о

СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

/1;:

С.Б.Иоффе,: ... . ;;,- /

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИ ЯДДСТИН

ДЛЯ И НТЕРФЕРЕН ЦИОН НО- ПОЛЯ РИЗАЦИОН Н ЫХ

СВЕТОФИЛЬТРОВ В ПРОЦЕССЕ ИХ ДОВОДКИ

Заявлено 22 мвя 1950 г. зв, те 04849/418476 в Гостехнигг СССР

Опт блнков11но в «151оллетенс изобретения» . 4 11 зн 1954 T.

Предмет изобретснпя

Способ контроля толщины кристаллических пластин для иитсрф тренционно-поляризационных светофИЛЬтРОВ, В TIPOll,CCCP ИХ ДОВОДКИ. отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса контроля и повышения его точности, перву1о-— опорную — пластину контроли1» 1от путем наблюдения при постоянной температуре в спектроскопе совпадсния максимума интерфереицион .1ой

TlR rIAi I 1 r 1 IIcA1R1T nттттт:т1т т -тт т1тт "т от 111 11 11 Тот"Г1111в ст и 7;an1 тТ RÒò А11 òTA1ò

Предлагаемый способ контроля толщины кристаллических пластин для интерференционно-поляризационных светофильтров в процессе их доводки более прост и точен по сравнению с существующими способами, основанными иа непосредственных измерениях. Его применение позволит сократить время изготовления кристаллических пластин, а их термостатирование при этом отпадает.

Способ этот заключается и том, что контролируют только первую опорную пластину, наблюдая в спектроскоп совпадение максимума иитерфе ренционной полосы с данной спектральной линией. Всс же остальные пластины контролируют, наблюдая иитерференционную картину, создаваемую контролируемой и опорной пластинами.

О достижении требуемой толщины пластин судят в одних случаях по симметричности вторичных максимумов, в других — по совпадению минимумов, относящихся к одной пластине, с максимумами, относя1цимися к другой пластине.

Кажда я точно доведенна я предыдля последующеи, например, первая — для Второй, вторая — для третьей и т. д.

В тех случаях, когда имеется возможность получить монохроматическос излучение достаточной интенсивности с длиной волны 3., совпадающей с длиной волны,„, для максимального пропускания фильтра,можно измерять остаточную разность фаз с помощью компенсатора. например, Сенармона. Величина остаточной разности фаз и температура кристаллической пластины позволяют определить излишек толш1п1ы, который нужно снять при полировании поверхности.

ЛЬ С1г1386

:Отв. редактор И. В. Макаров

:0133850 от 22/Х 1955 г Стандартгиз. Объем 0,125 и. л. Тираж 400. Цена 25 кон. ей, все же остальные пластины контролируют, наблюдая интерференционную картину, создаваемую контро лируемой и опорной пластинами, и о достижении требуемой толщины судят по симметричности вторичных максимумов и совпадению минимумов, относящихся к одной пластине, с максимумами, относящимися к другой пластине, причем опорными являются первая пластина для второй, вторая — для третьей и т. д.