Способ определения толщины оксидных пленок

Способ определения толщины оксидных пленок

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

:й 99388

Класс 42b, 11

СССР д! Qgj «g

П 4 э « «° ° «» 1jlj„1 f г, » (° « р " * ° «С«

0llHCAHVIE PI306PEtE@

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

В. П. Борзов

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ОКСИДНЫХ ПЛЕНОК

Заявлено 22 октября 1952 г. за Х 07446, 448750

Опубликовано в «Ьюллетене изобретения» М 11 за 1954 г.

Предметом изобретения является способ определения толщины оксидного покрытия на металлических сплавах, отличающийся от известных способов тем, что толщина оксидной пленки определяется сравнением интенсивности спектральных линий химического элемента, введенного в эту пленку, с интенсивностью спектральных линий осповнсго элемента оксидированного металлического сплава.

Предлагаемый способ состоит в том, что в поры оксидной пленки вводят, например, путем окунания, паполнитель, представляющий собой соль какого-либо химического элемента, пе содержа1цегося в оксидированном сплаве и имеющего удобные спектральные линии в используемой области спектра (например, соли бария, стронция и др)

Затем измеряют отноа тельную интенсивность пары спектральных линий, из которых одна является линией элемента, входящего в состав наполпителя, а другая — основного элемента сплава, EIB который нанесена оксидная пленка.

После этого по градуировочному графику. построенному по 3 — 4 эталонам, охватывающим интервал встречающихся толшин оксидпой пленки, спределяют толщину этой пленки.

Для возбуждения спектра оксидного покрытия могут быть применены искровой и дуговоп разряды небо. jbIIIOil мощности от стандартны х генераторов.

Предмет изобретения

1. Способ определения толщины оксидных пленок на металлическ1 х сплавах, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что пленку насыщают солью элемента, не содержапюгося в оксидированном сплаве, и определяют толщину пленки по интенсивности спектральных линий этого введенного в пленку элемента.

2. Прием выполнения способа но и. 1, отличающийся тем, что интенсивность спектральных линий введенного в пленку элемента определяют сравнением с интенсивностью спектральны., линий основного элемента сплава, на который нанесена пленка.