Способ сортировки полупроводниковых приборов и устройство для его осуществления
Иллюстрации
Показать всеРеферат
Оп ИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Союз Советскнк
Соцналнстнчестснк
Республнк н 1999127 (61)Дополнительное к авт. свид-вуР М К,, з (22) Заявлено 06.07. 78(23) 2639123/18-21 н 01 L 21/00 с присоединением заявки HоГосударственный комитет
СССР
IEo делам нэобретений н открытий (23) ПриоритетОпубликовано 2302.83; Бюллетень N9 7 (33 ? УДН 621, 396 ° I (OS8. 8) Дата опубликования описания 2302.83
Л.H.Петров, В.A.Адоньев и В. И;-койбнов (72) Aaropbiизобретения
Ц 1 °
4 «.? (73 ) Заявитель (54) СПОСОБ СОРТИРОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ. И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
Изобретение относится к изготовлению полупроводниковых приборов, в частности к сортировке их по электрическим параметрам.
Известен способ сортировки полупроводниковых приборов, .включающий операции подачи каждого полупроводникового прибора, подключения к контактному механизму, замера электрических параметров полупроводникового прибора, отключения его от контактного механизма и выгрузки f1 3.
Однако этот способ малопроизводи-телен из-за.неполного использования блока измерений.
Это обусловлено тем, что используемый способ последовательного, рассовмещенного выполнения операций и реализующие способ устройства используют измеритель только на 60%.
Известно также устройство для сортировки полупроводниковых приборов, „ содержащие соединенные с приводом.механизм загрузки, транспортирующий .механизм, контактный механизм с контактными элементами, соединенными с блоком измерений электрических параметров полупроводниковых приборов и раэ грузочные лотки (2).
Однако известное устройство мало производительно.
Цель изобретения - повьяаение про изводительности.
Поставленная цель достигается.тем, что согласно способу сОртировки полу-: проводниковых приборов, включающему операции подачи каждого полупроводникового прибора, подключения к контактному механизму, замера электрических параметров полупроводникового прибора, отключения его от контактно- го механизма и выгрузки, операцию . подключения одного полуйроводниково 5 .го прибора и контактному механизму осуществляют одновременно с операция-. ми отключения от контактного механизма и выгрузки другого полупроводникового прибора. .Устройство для осуществления способа, содержащее соединенные с приводом механизм загрузки.транспортирующий механизм, контактный механизм с контактными элементами, соединенны25 ми с блоком Измерений электрических параметров полупроводниковых приборо« и разгрузочные лотки, контактный механизм выполнен двухпозиционным и снабжен автономным приводом его возЗ0. вратно-поступательного перемещения
999127 относительно механизма загрузки, а контактные элементы контактного механизма каждой позиции установлены с возможностью их одновременного пере-мещения.
На фиг.1 схематично представлено устройство, реализующее предлагаемый способ сортировки, на фиг.2 — контакт ный механизм.
Устройство содержит механизм загрузки, включающий вибробункер 1 и лоток 2 для ориентированной подачи полупроводниковых приборов в двухпозиционный контактный механизм 3, который служит для подключения сортируемых полупроводниковых приборов к блоку измерений (не показан) их электрических параметров. Контактный ме.ханизм 3 установлен с воэможностью возвратно-поступательного перемещения относительно лотка 2 с помощью 20 автономного привода 4. Для приема и подачи в соответствующую тару разбракованных приборов служит карусель 5, карманы 6 которой совмещаются с разгрузочными лотками 7 (показан один лоток), по которым разбракованные приборы подаются в соответствующую тару 8 по группам. Контактный механизм содержит корпус 9, в котором выполнены загрузочные пазы 10 и 11.
Передние части боковых поверхностей ксрпуса образуют опорные площадки 12 и 13 для выводов 14 измеряемых полупроводниковых приборов, Контактные элементы 15 и 16 установлены симметрично относительно корпуса 9 и закреплены в стойке 17 корпуса 9 контактного механизма 3. В стойке 17 также установлена подвижная вилка 18, продольные образующие которой (рычаги) своими концами взаимодействуют с контактными элементами 15 и 16. Вилка 18 посредством рычагов 19 и планки 20 соединена с ее приводом 21.Контактные элементы 15 и 16 могут быть смонтированы отдельно от контактного 45 механизма 3 и снабжены приводом.
Устройство работает следующим об, разом. ь Ф
Из вибробункера 1 по лотку 2 при- бор подается в загрузочный паз 11 контактного механизма (первая позиция). Этот паз совмещен с лотком 2 и с одним из карманов. карусели 5. В это время привод 21 вилки 18 перево дит концы ее образующих 22 (рычагов) 55 в крайнее левое положение. При этом правые контактные элементы 15 эа счет их упругости прижимаются к выводам 14 прибора, находящегося в пазу
11 и блок измерений начинает замер 69 параметров. Одновременно с контактированием прибора включается привод 4 контактного механизма 3 и он перемещается в правое положение (вторая позиция). В процессе движения выполня- 65 ются измерения электрических п .;; аметров прибора. В положении контактного механизма 3 на второй позиции в паз
10 подается из лотка 2 очередной при5ор, а привод 21 вилки 18 переводит ее концы в крайнее правое положение, при этом от выводов прибора, находящегося в пазу 11 отводятся контактные элементы 15, а контактные элементы 16 контактируют с выводами другого полупроводникового прибора, находящегося в пазу 10. Прибор из паза
11 подается в одни из карманов карусели 5 и транспортируется для выгрузки в тару соответствующей группы. Далее цикл повторяется. Дпя измерения по двухпроводной системе Кельвина могут быть использованы опорные площадки 12 и 13. В этом случае они выполняются локализовано токопроводящими и соединяются с блоком измерений.Контактный механизм 3 может иметь ось качания как параллельно плоскости вращения карусели 5, так и перпендикулярно ей, может совершать возвратно-поступательное движение в плоскости вращения карусели. Сущность его функции от этого не меняется. Контактные элементы могут прижиматься как под действием сил собственной упругости, так и под действием пружинных или механических прижимов. Таким образом, устройство практически не имеет холостых ходов, а время простоя измерителя определяется временем .срабатывания контактных элементов, что позволяет осуществить операцию подключения одного полупроводникового прибора к контактному механизму одновременно с операциями отключения от контактного механизма и выгрузки другого полупроводникового прибора.
Формула изобретения
1, Способ сортировки полупроводниковых приборов, включающий операции подачи каждого полупроводникового прибора, подключения к контактному механизму, замера электрических параметров полупроводникового прибора, отключения его от контактного механизма и выгрузки, о т л и ч а ю— шийся тем, что, с целью повышения производительности, операцию подключения одного полупроводникового прибора к контактному механизму осущеcTBляют одновременно с операциями отключения от контактного механизма и выгрузки другого полупроводникового прибора.
2. Устройство для осуществления способа по п.1, содержащее соединенные с приводом механизма загрузки транспортирующий механизм, контактный механизм с контактными элемента 999127 ии, соединенными с блоком измерений электрических параметров полупровод никовых приборов, и разгрузочные лот,ки, отличающееся тем, что контактный механизм выполнен, двухпозиционным.и снабжен автономным .приводом его возвратно-поступательно:го перемещения относительно механизма загрузки, а контактные элементы контактного механизма каждой позиций установлены с возможностью их одно:воеченного перемещения.
Источники информации, принятые во внимание при экспертизе
1. Проспект Фирмы Даутагс, США
1971, модель 3235.
2. Авторское свидетельство СССР
Ь 472486, кл Я; 05"Х Т 3/62, 1972.
999127
11
Qua.2
Составитель 3.Яшина
Редактор Г. Волкова Техред Т.Маточка Корректор М.Шароши
Эаказ 1169/76 Тираж 701 Подписное
ВНИИПИ Государственíîro комитета СССР по делам изобретений и открытий
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д.4/5
Филиал ППП "Патент", r.Óæãoðoä, ул.Проектная, 4