PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ПАСЬКО ЮРИЙ БОРИСОВИЧ

Изобретатель ПАСЬКО ЮРИЙ БОРИСОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для контроля шероховатости поверхности объекта

Устройство для контроля шероховатости поверхности объекта

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 24..02.76 (21) 2332737/28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (43) Опубликовано 05.05.77.Бюллетень № 17 (45) Дата опубликования описания20.06.77 Союз Советских Социалистических Республик (») 557264 (51) N. Кл. $01 B 11/30 Государственный номнтет Совета Мнннстроа СССР оо...

557264

Интерференционный поляризатор

Интерференционный поляризатор

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ < )911432 Союз Советских Соцмапмстмчееимк Республик (6l ) Дополнительное к авт. саид-ву. 1 (53)M. Кл. (22) Заявлено 180780 (21) 2960372/18-10 с присоединением заявки № С 02 В 5/30 3Ьуударстюнвй квинтет соер ав делам юобретеккк и открытий (23) Приоритет Опубликовано 070382, Бюллетень № 9 Дата опубликования описания 070382 {...

911432

Двухлучевой фотометр

Двухлучевой фотометр

  < 940018 Союз Советских Соцнапистических Респубики ОП ИСАНИЕ ИЗЬВРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 24. 12. 80 (21) 3261425/18-25 с присоединением заявки Рй (23) Приоритет (51)N. Кл. G 01 N 21/55 Ркудеретееиеыб квинтет СССР IIo делам наебрвтевке н открытий Опубликовано 30. 06. 82. Бюллетень М 24 Дата опубликования описания...

940018

Двухлучевой дифференциальный фотометр

Двухлучевой дифференциальный фотометр

  ДВУХЛУЧЕВОЙ ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ ФОТОМЕТР, содержащий источник излучения, на оптической оси которого установлен светоделитель, отражатели, переключатель оптических каналов и СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК 09) (10 780 А 3(50 01 1/44 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABTOPGHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЬПЪЙ (21) 3364072/18-25 (22) 18...

1087780

Способ измерения коэффициента ослабления

Способ измерения коэффициента ослабления

  Изобретение относится к фотометрии и может быть использовано для измерений отражающих и поглощающих свойств объектов, например для калибровки и поверки ослабителей оптического излучения. С целью повышения точности измерений ортогоиализируют поляризации опорного и измерительного потоков излучения, измеряют азимуты поляризации смешанных на фотоприемнике потоков излучения, по значен...

1226193


Устройство для измерения амплитудной и фазовой анизотропии отражателей

Устройство для измерения амплитудной и фазовой анизотропии отражателей

  Устройство предназн ачено для измерения поляризационных парамет ров отражателей, например лазерных зеркал. В устройстве излучение от источника 2 модулируют иа разных частотах со, и (Jj с помощью амплитудного 5 и фазового 7 модуляторов и направляют на плоскопараллельную пластину 9. С помощью этой пластины, коммутатора 11, эталона амплитудной .и фазовой анизотропии 10, и нормаль (Л...

1252677

Способ измерения радиуса кривизны поверхности оптической детали

Способ измерения радиуса кривизны поверхности оптической детали

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения радиусов кривизны оптических поверхностей, превышающих величину порядка 10 М. Контролируемая деталь 11 устанавливается в резонаторы двух лазеров одновременно. Длина одного из лазеров изменяется до совпадения частот генерации обоих лазеров. Затем контролируемая деталь смещается в поперечном напра...

1283221

Способ измерения радиуса кривизны поверхности оптической детали

Способ измерения радиуса кривизны поверхности оптической детали

  Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения преимущественно больших радиусов кривизны сферической поверхности оптических деталей. Контролируемую деталь устанавливают в резонаторы одновременно дв-ух лазеров с одинаковыми частотами, выравнивают частоты излучения, перемещают деталь в направлении , перпендикулярном ее.оптической оси, считают количество...

1322088

Способ контроля оптических деталей

Способ контроля оптических деталей

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения кривизны поверх ностей и клиновидности оптических деталей. Цель изобретения - повьшение точности контроля - достигается за счет определения частоты оптических колебаний, соответствующей дифракции Брэгга. Монохроматическое излучение разделяют на два параллельных-последовательно направляемых на ко...

1456776

Фазоизотропный уголковый отражатель

Фазоизотропный уголковый отражатель

  Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано в качестве малорасстраивающих зеркал резонаторов в кольцевых лазерах. Изобретение позволяет упростить конструкцию и расширить рабочую спектральную область. Уголковый отражатель состоит из призмы 1, выполненной из материала с показателем преломления 1,45-1,55 и нанесенной на ее гипотенузную грань интерфер...

1509792


Способ контроля прозрачных оптических деталей

Способ контроля прозрачных оптических деталей

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (g1)g С 01 В 21/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Н A BTOPCHOMY СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И РТНРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР (21) 4479570/28 (22) 30.06,88 (46) 28.02.91. Бюл, ¹- 8 (72) Л.И. Даденко, Ю.Б.Пасько, В.К.Резунков и В.П.Тетера (53) 537, 7 (088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР ¹ 1456776, кл. G 01 В 11/24, 1...

1631271

Модулятор

Модулятор

  Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано для управления оптической длиной пути оптического излучения в различных оптических приборах и интерференционных схемах. Целью изобретения является повышение надежности модулятора за счет снижения величины управляющих сигналов при сохранении заданного диапазона перемещения зеркала путем управления величи...

1737397

Способ контроля прозрачных оптических деталей

Способ контроля прозрачных оптических деталей

  Изобретение относится к измерительной технике и предназначено для измерения радиусов кривизны и толщины прозрачных оптических деталей при их производстве и эксплуатации. Целью изобретения является повышение точности и расширение функциональных возможностей контроля параметров. Для достижения поставленной цели нужно установить нижнюю частотную границу дифракции Брэгга падающего из...

1800261