PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ГОРЮНОВ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ

Изобретатель ГОРЮНОВ НИКОЛАЙ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для оптического контроля интегральных схем

Устройство для оптического контроля интегральных схем

  Союз Советских Социалистических Республик О П И С А Н И Е (вв4 в7 И- ЗОБ РЕТЕ Н ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свил-ву— (22) Заявлено 21.07.76 (21)2388206/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет (43) Опубликовано 25.02.78. Бюллетень № 7 (45) Дата опубликования описания оь.oл. т (51) М. Кл. G. 01 Я 31/26 G 01 Я 21/00 Государственный комит...

594467

Способ измерения тепловой постояннойвремени переход-корпус полупровод-никовых приборов

Способ измерения тепловой постояннойвремени переход-корпус полупровод-никовых приборов

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистически» Республик (1 )808831 Ф Ф (6l ) Дополнительное к авт. свид-ву Ъ (22) Заявлено 24.05.79 (2l ) 2769789/18-25 с присоединением заявки М (23) Приоритет Опубликовано 28.02.8) ..Áþëëåòåíü М 8 (5l }M. Кл. 9 01 В 5/18 Государственный квинтет (53) УДК 5з2.. ° 1 З7 (088. 8 ) по делам нзобретеннй н...

808831

Устройство дефектоскопического контроляпланарных структур

Устройство дефектоскопического контроляпланарных структур

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К .АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (ii) 813202 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 07.07.78 (21) 2639929/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл.з G 01 N 21/27 Гееударственный комитет СССР пе делам изобретений и еткрытий Опубликовано 15.03.81. Бюллетень № 10 Дата опубликовани...

813202

Устройство для контроля качества соединения полупроводниковой подложки с ее электровыводами

Устройство для контроля качества соединения полупроводниковой подложки с ее электровыводами

  ИСАНИЕ Союз Соввтсиии Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. свнд-ву (5 3 ) М. Кл. (22) Заявлено 13. 01. 81 (21) 3236454/25" 28 с присоединением заявки М (23) Приоритет G 01 N 19/04 зввудврствеииый кокитвт СССР ло авлаи изобретений и открытий Опубликовано 23. 08. 82. Бюллетень М 31 е Дата опубликования описания 25 т08.83„. "т (53) У...

953536

Мощный транзистор с гребенчатой структурой

Мощный транзистор с гребенчатой структурой

  Союз Советски к Социалистических Республик ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ < 1978235 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 14.01.81 (21) 3237739/18-21 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет (51)М. Кл. Н 01 L 23/02 3Ъвударствеай каиитат СССР аа двлаи изобретений и открьпий Опубликовано 30.11.82. Бюллетень № 44 Дата опубликования описания 30....

978235


Устройство для подъема и перемещения тяжелых предметов при ремонте помещения

Устройство для подъема и перемещения тяжелых предметов при ремонте помещения

  ОЙИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сеюз Севетскив Сеулалистическик Республик 981199 (61) Дополнительное к авт. сеид-ву Ф 248929 (22) 3 >®лене 03. 03. 80 (2>)2888892/27-11 Р М g+ з с присоединением заявки HPВ бб F 7/14 (23) Приоритет— Ф Опубликовано 15.12,82 . Бюллетень М 4б Гасударственнмй квинтет СССР не делаи нзебветеннй н отнрытнй «531 УДК б21.8бб (088....

981199

Способ измерения теплового сопротивления цифровых интегральных микросхем и устройство для его осуществления

Способ измерения теплового сопротивления цифровых интегральных микросхем и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к технике измерения параметров интегральных микросхем и может быть использовано для контроля качества цифровых интегральных микросхем на основе ТТЛ и ТТЛШ логических элементов. Целью изобретения является повышение точности измерений путем уменьшения влияния паразитного сопротивления в цепи питания микросхем на результат измерения. Сущность способа поясняется...

1613978

Устройство для измерения подпороговых сток-затворных вольтамперных характеристик мдп-транзистора

Устройство для измерения подпороговых сток-затворных вольтамперных характеристик мдп-транзистора

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я)5 Н 01 L 21/66 ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4928705/25 (22) 17.04.91 (46) 07.03.93. Бюл. hb 9 (71) Московский институт стали и сплавов (72) Д.Г.Крылов, Н.H.Ãîðþíîâ и Е,А.ЛадыГин (56) Sabnls А.G. Characterization of annealing fo Co ganna-ray damage...

1800503