КОРТОВ ВСЕВОЛОД СЕМЕНОВИЧ

  Союз Советских Социалистимеских республик ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1,639048 (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено06.07.77 (21)2503444/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл. Н 01 J 43/10 Государственный комитет Совета Инннотров СССР оо делам нзобретеннй н открытий (43) Опубликовано25.12.78.Бюллетень №47 (53) УДК 5...

  О П."@-"-© A Н И Е »723470 ИЗОБРЕТЕН Ия Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт свид-ву (22) Заявлено 23.10,78 (21) 2677416/18 25 (5l )M. Кл. G 01 Т 1/02 с присоединением заявки ¹ (23) П риоритет Гасударственный камитет СССР (53) УДК 539.12.04, .08 (088.8) до делам изобретений и открытий Опубликовано 25 03 80. Бюллетен...

  . СОЮЗ COBKTCHHX Це) O)) М511 С 09 К 11/20 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНЙЙ-- . И АВ1 ОРСИОМУ СВИЩТЕЛЬСТВУ C у ) ОСУДАРСТВЕКНЫЙ. КОМИТЕТ СССР re ДЕЛАМ ИЗОЕ НЮИй И ОТНРЫтИй (21) 3397170/23-26 (22) 04 .02.82 (46) 23..11.83. Sion. М 43 (72) А.ф.Зацепин, В.С.Кортов, ф.С.Андреев, В.И.Ушкова И Л.А.Благийина (71) уральский ордена Трудового Красного Знамени политехнический институт им.С.М.Киров...

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПОТОКОВ НИЗКОЭНЕРГЕТИЧЕСКИХ ЭЛЕКТРОНОВ в разборных вакуумных установках, содержащее динодную систему вторично-электронного умножителя и и коллектор, отличающееся тем, что, с целью расширения диапазона регистрации интенсивности потоков электронов и повышения чувствительности измерений, перед входом динодной системы последовательно, по ходу электронного пот...

  Изобретение относится к технологии стекла, а именно к способам контроля технических параметров стекол и стеклоизделий, упрочненных ионообменной обработкой. Цель изобретения - неразрушающйй количественный контроль. Возбуждают поверхность стеклоизделий, подвергнутых ионообменной обработке, пучком электронов с энергией 0,5-1,2 кэВ. После нагрева стеклоизделия регистрируют интенсивно...

  Изобретение относится к технике электрометрии , в частности, к электрометрическим лампам (ЭМЛ), и может быть использовано для повышения точности измерений с помощью ЭМЛ. Целью изобретения является повышение точности измерений путем уменьшения сеточного тока. Макет ЭМЛ, реализующей предложенный способ, состоит из цилиндрического фторопластового корпуса 1, помещенного в вакуумную ка...

  Изобретение относится к технологии изготовления электронно-оптических преобразователей , а именно к составам стекол, используемых в качестве основы для микроканальных пластин. Цель - повышение вторично-эмиссионных свойств микроканальных пластин. Для этого стекло содержит следующие компоненты, мол.%: SI02 46,75-54,55; РЬО 38,25-44,55; ВеО 1,00-15,00. Изобретение может применяться...