ГИМЕЛЬФАРБ ФЕЛИКС АРОНОВИЧ
Изобретатель ГИМЕЛЬФАРБ ФЕЛИКС АРОНОВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ эпитаксиального наращивания полупроводниковых монокристаллов с градиентом состава Способ эпитаксиального наращивания полупроводниковых монокристаллов с градиентом состава](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6956d1f8919f0794bd8b17c0227eede9.jpg)
Способ эпитаксиального наращивания полупроводниковых монокристаллов с градиентом состава
патен .ио--е;;ничасная б ог(иQ1 з;;g я ф д Союз Соеетсмеа Социал истмчвспва Республик < 1) 646389 (61) Подолнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено12.08.75 (2!) 2157007/25 (5j) И. Кл. Н 01 1. 21/36 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— Гвщдерстееемй кеьатет СССР пв делан изебретею» я открытии Опубликовано 05.02.79,Бюллетень № 5 Дата опубликозания описания 05.02....
646389![Способ рентгеноспектрального анализа сплавов редких металлов Способ рентгеноспектрального анализа сплавов редких металлов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/701073b30a56837e5ff423c69e1753bf.jpg)
Способ рентгеноспектрального анализа сплавов редких металлов
О П И С А Н И E 7857ОО Союз Советских Социалистических Республик ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к ает. сеид-ву (22) Заявлено 18Р679 (21) 2780374/18-25 с присоединением заявки Йо (23) Приоритет— Опубликовано 07,1280. Бюллетень Йо 45 Дата опубликования описания 07.128 р (51)М. Кл.з С 01 N 23/2 23 G 01 N 25/14 Государственный комнтет СССР яо делам...
785700![Способ элетронно-зондового микроанализа нелюминесцирующих твердых тел Способ элетронно-зондового микроанализа нелюминесцирующих твердых тел](https://img.patentdb.ru/i/200x200/65df21a8e71b0ead93b94c284ed11827.jpg)
Способ элетронно-зондового микроанализа нелюминесцирующих твердых тел
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ {61) Дополнительное к авт. свид-ву {12) Заявлено 27. 03. 81(21) 3265927/18-25 (51) М. Кл.з G 01 N 23/22 //С 01 N 21/64 с присоединением заявки М 3365925/18-25; 3265926/18-25; 3265934/18-25 (23) Приоритет Государственный комитет СССР но делам изобретений и открытий t$3) УДК 620.187:...
987484![Реактив для химического травления Реактив для химического травления](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7cf6355108c6b16429415026f8d538f2.jpg)
Реактив для химического травления
РЕАКТИВ ДЛЯ ХИМИЧЕСКОГО ТРАВЛЕНИЯ; содержаний азотную, фосфорную и уксусную кислоты, о тличающийся тем, что, с целью вьивления микровключений размером менее 3 мкм, он дополнительно содержит плавиковую кислоту при следующем соотношении компонентов, об.%; Азотная кисЛота (j 1,352 г/см) 4-6 Фосфорная кислота (j 1,696 г/см) 18-22 Уксусная кислота ( / 1,665 г/см) 60-70 Плавиковая кисл...
1089465![Способ подготовки образца для электронно-зондового микроанализа нелюминесцирующих веществ Способ подготовки образца для электронно-зондового микроанализа нелюминесцирующих веществ](https://img.patentdb.ru/i/200x200/84fe1c8458fd5528ccdc3fabbab2daf8.jpg)
Способ подготовки образца для электронно-зондового микроанализа нелюминесцирующих веществ
СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ОБРАЗЦА ДЛЯ ЭЛЕКТРОННО-ЗРВДОВОГО МИКРОАНАЛИЗА НЕЛЮМИНЕСЦИРУКЩХ ВЕЩЕСТВ, включающий полировку контролируемой поверхности образца и окисление ее в газовой среде при температуре образования люминесцирукщего слоя, отличающийся тем, что, с расширения круга исследуемых материалов, после полировки на поверхность наносят в вакууме слой иттрия или гадолиния толщиной 0,5-...
1100525![Способ послойного анализа диэлектриков Способ послойного анализа диэлектриков](https://img.patentdb.ru/i/200x200/efdc1f45079341622048ca4895ab3fb9.jpg)
Способ послойного анализа диэлектриков
СПОСОБ ПОСЛОЙНОГО АНАЛИЗА ДИЭЛЕКТРИКОВ, заключающийся в бомбардировке ионами поверхности образца с предварительно нанесенной на нее токопроводящей пленкой, регист-г рации спектров вторичной ионной эмиссии и определении концентраций элементов по зарегистрированным спектрам , отличающийся тем, что, с целью повышения чувствительности и улучшения воспроизводимости результатов, бомбар...
1105792![Способ послойного контроля распределения элементов Способ послойного контроля распределения элементов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/968538223cb52dc3692d46174f31a2d6.jpg)
Способ послойного контроля распределения элементов
СПОСОБ ПОСЛОЙНОГО КОНТРОЛЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕМЕНТОВ, заключающийся в облучении пучком электронов : поверхности образца, установленного под углом к направлению падения первичного пучка, и измерении интенсив кости генерируемого рентгеновского излучения, отличающийся тем, что, с целью обеспечения возможности послойного контроля распределения элементов без разрушения исследуемого обра...
1130783![Способ электронно-зондового микроанализа нелюминесцирующих твердых тел Способ электронно-зондового микроанализа нелюминесцирующих твердых тел](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7c3c6d15da7058fa92fe9025c018569c.jpg)
Способ электронно-зондового микроанализа нелюминесцирующих твердых тел
СПОСОБ ЭЛЕКТРОННО-ЗОНДОВОГО МИКРОАНАЛИЗА НЕЛЮМИНЕСЦИРУЮЩИХ ТВЕРДЫХ ТЕЛ по авт. св. № 987484, отличающийся тем, что, с целью снижения пределов обнаружения примесей в кремнии, образцы окисляют в атмосфере кислорода при 1050-1150°С в течение 3-5 ч. СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК . 158 4 G Ol N 21 64 OllHCAHHE ИЗОБРЕТЕНИЯ К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ ГОСУДАРСТ...
1191788![Способ изготовления образцов для рентгеноспектрального анализа сплавов редких металлов Способ изготовления образцов для рентгеноспектрального анализа сплавов редких металлов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/8262d17917364f849b5052397e48875c.jpg)
Способ изготовления образцов для рентгеноспектрального анализа сплавов редких металлов
Изобретение относится к области аналитической химии ,в частности, к анализу материалов рентгеноспектральными методами. Цель изобретения - повышение экспрессности способа и получение гомогенных образцов. Материал анализируемого образца и образцов сравнения сплавляют с вскрывающей смесью. В качестве вскрывающей смеси используют стеклообразующую смесь состава мас.%: пиросульфат калия...
1497536![Способ количественного электронно-зондового микроанализа образцов с шероховатой поверхностью Способ количественного электронно-зондового микроанализа образцов с шероховатой поверхностью](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b2111e3d4006cfe26847cf2ab2c09e86.jpg)
Способ количественного электронно-зондового микроанализа образцов с шероховатой поверхностью
Изобретение относится к электронно-зондовому микроанализу твердых тел. Цель изобретения - повышение точности. Устанавливают образец 9 под поворотный экран 4 с секторным вырезом 5 и центральным отверстием 6 для прохождения электронного зонда. Детектором 7 электронов регистрируют угловое распределение медленных вторичных электронов в заданном телесном угле с вершиной в анализируемой...
1502990![Смесь для приготовления образцов для рентгеноспектрального определения элементов @ - @ групп периодической системы Смесь для приготовления образцов для рентгеноспектрального определения элементов @ - @ групп периодической системы](https://img.patentdb.ru/i/200x200/65a778b5295d6b2bd55f55f025273a93.jpg)
Смесь для приготовления образцов для рентгеноспектрального определения элементов @ - @ групп периодической системы
Изобретение относится к аналитической химии. Цель изобретения - повышение воспроизводимости результатов рентгеноспектрального определения лантана, галлия и кремния в кристаллах лангасита и в порошкообразных смесях, полученных путем твердофазного синтеза, а также повышение экспрессности определения. Смесь включает стеклообразователь - оксид бора, полуторный оксид висмута и оксид а...
1693499![Способ переработки молибденовых или вольфрамовых сплавов Способ переработки молибденовых или вольфрамовых сплавов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f73fa5536dcdb8105e06db21b9a5386f.jpg)
Способ переработки молибденовых или вольфрамовых сплавов
Изобретение касается переработки сплавов, содержащих тугоплавкие редкие металлы. Цель - повышение пЬоизводительности и селективности процесса. Сплав, содержащий 50% ниобия и 50% вольфрама, с дисперсностью частиц 1,2 мм, подвергают растворению в электролите, содержащем 20% гидроксида натрия. Используют насыпной анод из перерабатываемого сплава. Токопровод к насыпному аноду осущест...
1726545![Способ приготовления образцов сравнения для рентгеноспектрального микроанализа Способ приготовления образцов сравнения для рентгеноспектрального микроанализа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/1f88462e87239945640c4d92b480b14f.jpg)
Способ приготовления образцов сравнения для рентгеноспектрального микроанализа
Использование: в области аналитической химии, в частности, в способах подготовки образцов для рентгеновского микроанализа. Сущность изобретения: сплавляют материал образца сравнения со стеклообразующей смесью, вытягивают из сплава со скоростью 0,5-1.5 м/с волокно диаметром 50-500 мкм при скорости охлаждения 103-105 град/с, перпендикулярно оси волокна производят скол. СОЮЗ СОВ...
1824558