РАБОДЗЕЙ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ

  ййтбич H ., иск®й иб я н

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6f) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 0495В1 (21) 3286032/18-21 Саюз Советскик Социалист ически к Республик (и 002989 (И ) М. Кп.э G 01 R 31/26 с присоединением заявки №вЂ” Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет— f33) УДК 621. 382. .2(088.8) Опубликовано 070383. Бюллетень...

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повьшенце достоверности регистрации нелинейностей вольтамперных характеристик. Устройство содержит генератор 1 линейно изменяющегося напряжения, согласующий блок 3, блок 5 регистрации и клеммы для подключения испытуемого элемента 2. Введение блока 4 аналоговых дифференциаторов позволяет устройству регист...

  Изобретение относится к полупроводниковой электронике, в частности к устройствам сборки полупроводниковых приборов. Цель изобретения - повьпиение производительности оборудования и качества пайки. Устройство содержит генератор тока и аналоговый дифференциатор, подключенные к паяемому контактирующему узлу, а также устройство выборкихранения, пиковьп детектор, делитель, компаратор и...

  Изобретение относится к импульсной пайке деталей , в частности, к способам контроля процесса пайки полупроводниковых приборов. Цель изобретения - повышение качества и автоматизация процесса пайки полупроводниковых приборов. Способ включает укладку в приспособление выводов (основания), навески припоя и паяемого кристалла, их механическое сжатие и пропускание через них последователь...

  Изобретение относится к электронной технике. Цель изобретения - повышение точности контроля качества присоединения полупроводникового кристалла к корпусу - достигается благодаря контролю параметра, непосредст-, венно характеризующего качество посадки кристалла - теплового сопротивления кристалл - корпус. Кроме того, достигается расширение класса контролируемых приборов благодаря...

  Изобретение касается контроля качества полупроводниковых приборов и интегральных микросхем, выполненных по КМОП-технологии. Цель изобретения - повышение достоверности и сокращение продолжительности испытаний разгерметизированных КМОП интегральных схем с алюминиевыми электродами. С момента достижения установившегося режим осуществляют контроль тока потребления испытуемых микросхем...