PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ТУЛУЕВСКИЙ ВАЛЕНТИН МОНУСОВИЧ

Изобретатель ТУЛУЕВСКИЙ ВАЛЕНТИН МОНУСОВИЧ является автором следующих патентов:

Ячейка однородной вычислительной среды

Ячейка однородной вычислительной среды

  ОП ИСАНИЕ И ЗОБРЕТЕ Н,ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ 1 " 691846 Сотов Советских Сощналмстнческих Респубиин (61) Дополнительное к авт. свид-ву (51)M. 1(л. G 06 F 7/00 (22) Заявлено 03,0б.77 (21) 2492567/18-24 с присоединением заявки И Государственный комитет СССР во делам изобретений н открытий (23) Приоритет— Опубликовано 15.10.79, Вюллетень РЙ 38 (53) Д (681.327 (088.8)...

691846

Преобразователь "код-напряжение

Преобразователь "код-напряжение

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских >7778И Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 12.07.78 (21) 2643843/18-21 с присоединением заявки— (23) Г1риоритет —--(43) Опубликовано 07.11.80. Бюллетень № 41 (51) М.Кл Н 03 К 13/04 1осудорственнмй комитет ао делам изобретений и открытий (53) УДК 681.325 (088.8) (45...

777811

Параллельный аналого-цифровой преобразователь

Параллельный аналого-цифровой преобразователь

  (iii 934574 Союз Советскик Социалистические Республик O ll И С А Н. И Е ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6I ) Дополнительное к авт. сеид-ву(22) Заявлено 13. 12.77 (2l ) 2554459/18-2 1 (5I)M. Кл. Н 03 К 13/175 с присоединением заявки РЙ 3Ъеударстееииый квинтет СССР аю делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 07.06.82. Бюллетень № 21 Дата опубликован...

934574

Способ определения величины температурного коэффициента сопротивления резистивной пленки

Способ определения величины температурного коэффициента сопротивления резистивной пленки

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ ТЕМПЕРАТУРНОГО КОЭФФИЦИЕНТА СОПРОТИВ |ЛЕНИЯ РЕЗИСТИВНОЙ ПЛЕНКИ, включающий нагрев ее до заданной температуры. измерение сопротивления пленки при начальной и заданной температурах и определение величины термического Напряжения нагретой пленки с последующим расчетом величины температурного коэффициента.сопротивления,, отличающийся тем, что, с целью повыш...

1061179

Способ испытания полупроводниковых приборов с мдп- структурой

Способ испытания полупроводниковых приборов с мдп- структурой

  СПОСОБ ИСПЫТАНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ С МДП-СТРУКТУРОЙ, включающий нагрев структуры с последующим охлаждением до комнатной температуры и измерение электрических параметров испытуемой структуры, отличающийся тем, что. с целью повышения точности испытаний, на структуру одновременно с нагревом подают напряжение, величина которого лежит в диапазоне от максимального рабочего нап...

1114992