КУСТОВ ВАСИЛИЙ ГРИГОРЬЕВИЧ
Изобретатель КУСТОВ ВАСИЛИЙ ГРИГОРЬЕВИЧ является автором следующих патентов:
Способ измерения толщины полупроводниковых слоев материала
Союз Советских Социалистимеских Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 02.01.78 (21) 2573981j25-28 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М.кл . G 01 В 7/06 Гасударственный квинтет СССР па делам нзеаретеннй н аткрытнй Опубликовано 15.11.79. Бюллетень №42 Дата опубликования описания 25.11.79 (53) УДК 531.717 (088....
697801Устройство для изготовления клина
(7I) Заявитель (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ КЛИНА Изобретение относится к химической обработке деталей, в частности к устройствам для изготовления клина. Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности и достигаемому результату является устройство для изготовления клина, содержащее ванну для травителя, образец и элемент механического перемещения образца в травите...
901359Способ измерения толщины полупроводниковых слоев материала
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СЛОЕВ МАТЕРИАЛА ПО авт.св. О 697801, отличающийся Тем, что, с целью повышения точности и расширения пределов измерения толщины многослойных материалов , на исследуемом материале под жидкостньал электродом создают косой срез и после пропускания импульса электрического тока между материалом и жидкостным электродом измеряют расстояния между...
1109578