PatentDB.ru — поиск по патентным документам

МОРГУЛИС ЛЕВ МАРКОВИЧ

Изобретатель МОРГУЛИС ЛЕВ МАРКОВИЧ является автором следующих патентов:

Способ маркирования участка поверхности полупроводникового кристалла,соответствующего объемному микродефекту

Способ маркирования участка поверхности полупроводникового кристалла,соответствующего объемному микродефекту

  (»)728183 Ь П И Ж-"И:-МЖ ИЗЬБРЕТЕН ИЯ Союз Советских Социалистических Реслублик * «г К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) .Заявлено 06.10.77 (21) 2539147/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М.кл . Н 01 L21/26 G 01 N 23/225 Гесударстеенный крмнтет СССР до делам изобретений н открытий (53) УДК 621.382. .002 (088.8) Опу...

728183