ГАЙНУТДИНОВ ИЛЬДУС САЛЯХОВИЧ

  Союз Советскик Свциалистнческии Республмн (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (22) Заявлено 05,1078 (21) 2674989/29-33 (51)М. КЛ. С 03 С 17/00 с присоединением заявки ИВ (23) Приоритет Государственный комитет СССР по делам изобретений н открытий Опубликовано 2506.80,Бюллетень М 23 Дата опубликования описания 280680 (53) УДК 666 ° 1. .056(088.8) (72) Авторы изобретения И.С. Г...

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (n)992429 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 17. 08. 81(21) 3331227/18-10 (И) М. Кл.з с присоединением заявки М— С 02 В 5/28 (23) Приоритет— Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий Опубликовано 3001.83. Бюллетень М 4 Дата опубликования описания...

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛ|ЩИНЫ ТОНКИХ ПЛЕНОК, наносимых на подложку, содержащее последовательно расположенные источник излучения, коллимкрующую линэу и карусель для размещения подложек и последовательно установленные монохроматизирующий элемент, фотоприемник/ усилитель и индикатор, отличающееся тем, что, с целью расширения технологических возможностей, оно снабжено параболото{я...

  Изобретение относится к измерительной технике, к контролю оптических толщин отдельных слоев в процессе нанесения многослойных интерференционных покрытий оптическими методами. Цель изобретения - повышение информативности за счет расширения диапазона контролируемых показателей преломления и спектрального диапазона слоев и подложки. Для этого, исходя из отношения показателей преломле...

  Изобретение предназначено для контроля оптической толщины отдельных слоев в процессе нанесения многослойных интерференционных покрытий. Цель изобретения - повышение информативности за счет расширения диапазона контролируемых материалов, применяемых в качестве подложек, и для нанесения самих покрытий. Для контроля оптической толщины первого слоя определяют контрольную длину волны....