РЕЗНИКОВ МИХАИЛ АБРАМОВИЧ
Изобретатель РЕЗНИКОВ МИХАИЛ АБРАМОВИЧ является автором следующих патентов:
Способ контроля дефектов
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (>i> 763767 (6I ) Дополнительное к авт. свил-ву с (22)Заявлено 26.12.78 (21) 2703221/18 — 25 (51)М. Кд. G 01 N 27/24 с присоединением заявки М (23) П риоритет Гасударственный квинтет СССР яо делан нвебретеннй в вткрытнй Опубликовано 15.09 80 Бюллетень .% 34 Дата опубликования опи...
763767Устройство для контроля неоднородностей слоев материалов
ОП ИСАНИ Е ИЗЬБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Реслублик ()890213 (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (22) Заявлено 15.04.80 (21) 2913122/18-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— (51) М. Кл. G01 N 27/22 Гееударстееннмй кемнтет пе делам нзоеретеннй н еткрмтнй Опубликовано 15.12.81. Бюллетень № 46 Дата опубликования описания...
890213Способ регистрации изображений электрических неоднородностей в образцах пластинчатой формы
IfinOCOB РЕГИСТРАЦИИ ИЗОБРАЖЕНИЙ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ В ОБРАЗЦАХ ПЛАСТИНЧАТОЙ ФОРМЫ, включающий наложение исследуемого образца на регистрирующий материал и воз- . действие на них электрическим полем. отличающийся тем, что, с целью повьявения качества и оперативности регистрации,воздействуют на образец и регистрирующий материал переменным электрическим полем, а в качестве...
1020773Способ контроля дефектов слоев материалов
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ДЕФЕКТОВ СЛОЕВ МАТЕРИАЛОВ по авт.св.№360599, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности контроля материалов с микроструктурой , существенно не изменяющей электропроводность и диэлектрическую проницаемость, к образцам исследуемых материалов предварительно прикладывают переменное электрическое напряжение, величина которого состав ляет 0,8-0,95 пробив...
1188621Способ определения частотной зависимости комплексной диэлектрической проницаемости
Изобретение относится к способам исследования электрофизических характеристик твердых диэлектриков и может быть использовано для неразрушающего контроля непроводящих материалов, например полимеров и их композитов в приборостроении и машиностроении. Целью изобретения является повышение частотного разрешения способа. Для реализации этой цели исследуемую пробу помещают в емкостную и...
1770878