PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ГОЛОЩАПОВ СЕРГЕЙ СТЕПАНОВИЧ

Изобретатель ГОЛОЩАПОВ СЕРГЕЙ СТЕПАНОВИЧ является автором следующих патентов:

Множительно-делительное устройство

Множительно-делительное устройство

  О П И С А И . изо БГеткййЯ. Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. сеид-ву (22) Заявлено 13. 09. 78 (2 t) 2665824/18-24 с присоединением заявим И9 (23) Приоритет— Опубликовано 15.09.80. Бюллетень НВ 34 Дата опубликования описания 170980 (51)м К 3 9 06 Q 7/16 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открыти...

763915

Устройство для автоматического измерения параметров электрорадиоэлементов

Устройство для автоматического измерения параметров электрорадиоэлементов

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ АВТОМАТИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ЭЛЕКТРОРАДИОЭЛЕМЕНТОВ , содержащее блок управления , выход которого через блок задания режима соединен с одним зажимом для подключения испытуемого электрорадиоэлегтента ,,другой зажим соединен при этом с измерительным.Преобразователем , операционный усилитель, три образцовых резистора, конденсатор , ключ, измерительный прибор, о...

1018044

Устройство для измерения емкости

Устройство для измерения емкости

  Изобретение служит для повышения быстродействия устройства для измерения емкости. Работа устройства основана на измерении периода сигнала, формируемого генератором (Г) 1, в частотно-задающую цепь которого включена цепь, содержащая разделительные конденсаторы 19 и 20 образцовый варикап 16. Выходной сигнал Г I поступает на формирователь 2 импульсов с выхода которого импульсный сигн...

1465821

Способ измерения добротности варикапов

Способ измерения добротности варикапов

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении добротности полупроводниковых варикапов. Целью изобретения является повышение точности измерения путем учета температурного дрейфа добротности контура без измеряемого варикапа. Способ заключается в том, что контур с объектом измерения настраивают в резонанс и по уровню добротности контура с объек...

1597782

Способ измерения добротности контура методом расстройки частоты и устройство для его осуществления

Способ измерения добротности контура методом расстройки частоты и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для измерения параметров полупроводниковых приборов. Цель изобретения - повышение быстродействия и точности измерений путем измерения сигналов при резонансе на трех фиксированных ча,стотах с регистрацией уровней напряжения при этих значениях частот. Затем по трем значениям частоты и соответствующим з...

1709240