ГУРЫЛЕВ АЛЕКСАНДР СЕРГЕЕВИЧ

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву(22) Заявлено 280479 (21) 2760841/18-21 (51) М. Кл. Союз Советскнк Социалистических Республнк е с присоединением заявки 14о G 01 и 31/26 Н 01 1. 21/70 Н 05 К 13/00 Государственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 300681. Бюллетень Но 24 Дата опубликова...

  ОО ИСАНИЕ ИЗЬБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик тывается управляющий сигнал с шестого rg плексора 16 подается на первый вход выхода через первый вход третьего мупь- первого блока 17 выявления максимума, типлексора 16 на первый вход первого по которому значение максимума (числа) блока 17 выявления максимума, по ко- второго распред...

  О П И С А Н И Е,0„ 8 ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Советских Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное K авт. саид-ву (22) Заявлено 13.06. 80 (2>) 2944198/18-25 {51) М. КЛ.З с присоединением заявки № G 01 N 21/88 (23) Приоритет Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий ($3) УДК 535.242 (088. 8) Опубликовано 15. 03.83.Бюллетень ¹ 10 Дата...

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОДЛОЖКИ БОЛЬШИХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ, содержащее первый блок управления , блок представления первичной информации, вход которого подключен к первому выходу первого блока управления , анализатор годности, первый вход которого подключен к второму выходу первого блока управления, блок уставок вход которого подключен к третьему иыходу первого блока управления, б...

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЕРИОДИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ БОЛЬШОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ СХЕМЫ, содержащее блок управления, синхронизирующий генератор, первый вход и первый выход которого подключены соответственно к первому выходу и первому входу блока управления , блок перемещения периодической структуры большой интегральной схемы, первый вход и первый выход которого подключены соответственно к вто...

  1. Способ контроля фотошаблона включающий облучение контролируемого и эталонного фотошаблонов потоками электромагнитного излучения по нормали к их поверхностям с непрозрачным материалом, регистрацию излучения, прошедшего через фотошаблоны , определение отклонений топологии поверхности непрозрачного материала контролируемого фотошаблона по сравнению с топологией эталонного фотошаб...

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (19) (11) ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР (21). 3773706/25-08 (22) 24.07.84 :(46) 07,01.86. Бюл. Ф 1 (71) Ленинградский институт авиационного приборостроения (72) В.А.Лопухин, А.С.Гурылев,. А.Г.Михайлов, В.Г.Плотников и Н.Б.Генералова (53) 62-229.72(088.8) (56) Иванов А.А. Проектирование систем автоматического манипулирования миниатюр...

  Изобретение относится к автоматике , в частности к устройству для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура изображения объекта , и может быть использовано для измерения характеристик объекта путем анализа его изображения. Цель изобретения состоит в повьшении точности и быстродействия системы. Поставленная цель достигается путем выделения прямолинейного отрезка конт...

  Изобретение относится к автоматике , в частности к устройствам для определения угла наклона прямолинейного отрезка контура.изображений объекта, и может быть использовано для измерения характеристик I объекта путем анализа его изображения . Цель изобретения состоит в повьшении точности устройства при определении малых углов наклона прямолинейного отрезка контура изображения объект...

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет устранения углового рассовмещения между эталонной и контролируемой пленарными.структурами. Устройство дефектоскопического контроля планарных структур содержит ко СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я) 4 Гт 01 В 21/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А BTOPCHOMV СВИ...

  Устройство к технологии радиоаппаратостроения, а именно к устройствам для обнаружения дефектов поверхностей ,в частности, к аппаратуре неразрушающего контроля качества планарных структур, к которым относятся незагерметизированные дискретные и интегральные полупроводниковые структуры, фотошаблоны. Позволяет выявлять аномалии и дефекты топологии и может быть использовано при межопер...

  Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может использоваться в системах технического зрения для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта. Цель изобретения - расширение области применения путем обеспечения возможности определения величинь: отклонения от прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта....