ВОЕВОДИН АЛЕКСЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ
Изобретатель ВОЕВОДИН АЛЕКСЕЙ АЛЕКСЕЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ контроля слоистой структуры с использованием голографии Способ контроля слоистой структуры с использованием голографии](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ef77c1cd5d58cfb4187163f573060b14.jpg)
Способ контроля слоистой структуры с использованием голографии
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву— (5!) M. Кл.а G01 В 9/021 G О! N 2I/45 (22) Заявлено 17.07.79 (21) 2800025/!8-25 с присоединением заявки №вЂ” (23) Приоритет— Государственный комнтет (53) УДК 772.99 (088.8) Опубликовано 15.08.8! . Бюллетень № 30 па делам нэооретеннй н открыт...
855386![Способ определения деформаций поверхности объекта Способ определения деформаций поверхности объекта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/6060d4b67d8bebda946652bf4b19e609.jpg)
Способ определения деформаций поверхности объекта
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА, заключаюиц1йся в том, что фотопластинку устанавливают между источником света и объектом, освещает объект пучком когерентного света через фотопластинку , записьшают первую голограмму, деформируют объект, записывают вторую голограмму, восстанавливают одновременно обе голограммы, наблюдают и регистрируют интерференционную картину ,...
1099099![Способ контроля кривизны поверхностей Способ контроля кривизны поверхностей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/c2742791b4285d03918d65c906738b18.jpg)
Способ контроля кривизны поверхностей
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля формы плоских поверхностей , диффузно отражающих свет. Целью изобретения является повьшение производительности процесса контроля, достигаемое за счет исключения необходимости фотографирования интерференционной картины и обработки негатива . Контролируемая поверхность освещается двумя парами колли...
1330457![Интерферометр для контроля прогибов квазиплоских поверхностей деталей Интерферометр для контроля прогибов квазиплоских поверхностей деталей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/27adf29234c4c1a8d369bcec76e6ac51.jpg)
Интерферометр для контроля прогибов квазиплоских поверхностей деталей
Изобретение относится к измерительной технике и является усовершенствованием изобретения по авт.св.N578562. Цель изобретения - расширение диапазона контролируемых прогибов деталей. Пучки света, отраженные от горизонтальной гипотенузной грани призмы 2 и детали 7, выходят из призмы и отражаются от зеркала 3 в направлении регистратора 6. Угол освещения поверхности контролируемой дета...
1613849