PatentDB.ru — поиск по патентным документам

МАТЯШ ИВАН ВАСИЛЬЕВИЧ

Изобретатель МАТЯШ ИВАН ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ наблюдения сигналов электронного парамагнитного резонанса

Способ наблюдения сигналов электронного парамагнитного резонанса

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДИИДЬСТВУ Союз Советсиик Социалистическии Республик

857820

Способ определения продуктивности камерных пегматитов

Способ определения продуктивности камерных пегматитов

  Союз Советскмк Социалистических Республик ОП ИСАНИЕ < 976419 К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕПЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22)Заявлено 02.07.81 (2l) 3310526/18-25 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 23 . 11. 82 . Бюллетень ¹ 43 Дата опубликования описания 25.11,82 (51) M. Кл. ь 01 V 3/32 1Ьсудерстееииый комитет СССР по делам изобретений и открытий (53) У...

976419

Способ определения степени совершенства кристаллической структуры диэлектриков

Способ определения степени совершенства кристаллической структуры диэлектриков

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СТЕПЕНИ СОВЕРШЕНСТВА КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРЫ ДИЭЛЕКТРИКОВ, включащий регистрацию спектров электронного парамагнитного резонанса образца, отличающийся тем. что, с целью расширения диапазона исследуемых материалов при У() 1в-/-б-: М-I .ZW-; т 3 одновременном упрощении процесса исследований и повышения точности, проводят вторичную регистрацию спектров электронно...

1104403

Способ разбраковки минералов по дозе облучения,полученной ими в природных условиях

Способ разбраковки минералов по дозе облучения,полученной ими в природных условиях

  СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ МИНЕРАЛОВ ПО ДОЗЕ ОБЛУЧЕНИЯ, полученной ими в природных условиях, включающий регистрацию в исходном образце минерала сигнала электронного парамагнитного резонанса электронно-дырочных центров, находяпщхся в парамагнитном состоянии, отличающий-, с я тем, что, с целью повышения експрессности и достоверности, производят облучение исходного образца дозой , переводящ...

1117507

Способ измерения удельной поверхности поликристаллов

Способ измерения удельной поверхности поликристаллов

  Изобретение относится к способам измерения удельной поверхности поликристаллических веществ. Цель изобретения - повышение экспрессности и упрощение методики измерений. Предлагаемый способ основан на зависимости относительной интенсивности сигнала ЯМР квадрупольных ядер поликристаллических образцов от величины их удельной поверхности. СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИ...

1221562


Способ раздельной регистрации спектров эпр от различных пространственных частей исследуемого объекта

Способ раздельной регистрации спектров эпр от различных пространственных частей исследуемого объекта

  Изобретение относится к радиоспектроскопии ЭПР и может быть использовано для определения профилей распределения концентрации примесей в различных веществах , а также для изучения пространственного распределения других локальных характеристик без разделения объекта на отдельные части. Целью изобретения является повышение чувствительности и разрешающей способности. Спектры ЭПР от р...

1413494

Способ разбраковки минералов по условиям их образования

Способ разбраковки минералов по условиям их образования

  Изобретение относится к прикладной минералогии, а именно к радиоспектроскопии минерального вещества, и может быть использовано для классификации минералов различного генетического типа, для определения источников сноса россыпей, а также для определения приуроченности минералов к месторождениям полезных ископаемых. Целью изобретения является повышение достоверности полезной информа...

1511654