МОИСЕЕВ СЕРГЕЙ СТЕПАНОВИЧ

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИ ИТВЛЬСТВУ Сеез Сеаетских Сецналистическиз Республик »i»>876556 (61) Дополнительное к авт. сеид-ву— И1) М. Кл.з (22) Заявлено 110178 (31) 2567640/29-33 сприсоединениемзаявниМГосударственимЯ комитет СССР ho деааи изобретениЯ н открытиЯ С 03 В 11/00 (23) Приоритет(53) УДК 666.1.038. .24(088.8) Опубликовано 30.1081. бюллетень HQ 40 Дата опуб...

  Изобретение относится к технической физике. Способ позволяет повысить точность определения коэффициента поглощения твердых слабопоглощающих слаборассеивающих материалов и измерять указанный коэффициент. при.отсутствии информации о коэффициенте отражения исследуемых материалов . С помощью двух интегрирующих сфер и эталона с известным коэффициентом отражения определяют коэффициент...

  Изобретение относится к технической физике, точнее к исследованию оптических свойств твердых слабопоглощающих сильнорассеивающих материалов. Цель изобретения - повышение точности определения коэффициентов поглощения и диффузии излучения, особенно при отсутствии информации об объемной и поверхностной индикатрисах рассеяния. В предлагаемом способе для решения этой задачи предложено...

  Изобретение относится к технической физике и связано с исследованием оптических свойств твердых слабопоглощающих сильнорассеивающих материалов. Цель изобретения - повышение точности измерений. Предлагаемый способ решает задачу для случая, когда используются экспериментальные данные для пропускательной способности набора разнотолщинных образцов. В способе предлагается проводить изм...

  Изобретение относится к технической физике и связано с исследованием теплофизических свойств твердых сильнорассеивающих материалов, таких как, пористая керамика, порошки, волокнистая теплоизоляция и т.д. Предлагаемый способ позволяет непосредственно учитывать потери, связанные с рассеянием на дефектах структуры , примесях и других неоднородностях, и тем самым существенно увеличит...

  Использование: исследование или анализ структуры материала путем определения его физических свойств. Сущность изобретения: дополняют сканирование пластины относительно пучка излучения предварительным измерением сигнала приемника излучения внутри сферы, пропущенного эталоном и пластиной, помещенными поочередно вплотную к входному отверстию интегрирующей сферы. Затем определяют обл...