АФАНАСЬЕВ НИКОЛАЙ ПАВЛОВИЧ
Изобретатель АФАНАСЬЕВ НИКОЛАЙ ПАВЛОВИЧ является автором следующих патентов:
![Электромагнитный клапан Электромагнитный клапан](https://img.patentdb.ru/i/200x200/60a13728cf5fb0d8e8fdab4a5544fe9b.jpg)
Электромагнитный клапан
ОП ИСАWME ИЗОБРЕТЕН ИЯ Н АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советскик Социалистических Республик Опубликовано 23.12.81 ° бюллетень М 47 Дата опублнковання описания 23.12 81 (5l)М. Кл. F 16 К 31/02 ГвеударетееиныН кемнтет СССР во делам ваебретения я етермткй (53) УД К 621.; .646 (088.8() И. М. Коростышевский и H. П. Афанасьев (72) Авторы изобретения (71) Заявитель (54) ЭЛЕКТРО...
892097![Устройство для контроля параметров интегральных схем Устройство для контроля параметров интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/dfbf58ba7a6cd577442cbce63cfc26b9.jpg)
Устройство для контроля параметров интегральных схем
Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для контроля интегральных схем, и позволяет повысить надежность в работе и производительность. Интегральные схемы проходят под действием собственной массы через загрузочное отверстие в держатель 3 камеры нагрева 1. Держатель 3, поворачиваясь на шаг, последовательно загружается весь, одновременно прогревая инт...
1521690![Устройство для контроля параметров интегральных схем Устройство для контроля параметров интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/46f3fc6406692ed94e31ff53d1267066.jpg)
Устройство для контроля параметров интегральных схем
Изобретение относится к сортировочной технике, а именно к устройствам для контроля интегральных схем, и позволяет расширить функциональные возможности за счет многогрупповой сортировки. Устройство для контроля параметров интегральных схем содержит магазин, камеру нагрева с размещенными в ней держателями интегральных схем, нагревательные элементы , измерительное и сортировочное ср...
1675176![Устройство для контроля параметров интегральных схем Устройство для контроля параметров интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/094afb79826673a617d40ca9e58c527d.jpg)
Устройство для контроля параметров интегральных схем
Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля параметров интегральных схем по группам, которое позволяет повысить производительность труда при многогрупповой сортировке. Устройство содержит магазин с панелями для интегральных схем, приводом , датчиком и направляющими для интегральных схем. Под магазином имеется отсекатель, выполненный в виде с...
1682286![Устройство для контроля параметров интегральных схем Устройство для контроля параметров интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/fbdfb7f189c98c3d0fc9250447854bd0.jpg)
Устройство для контроля параметров интегральных схем
Использование: изобретение относится к измерительной технике, и может быть использовано для автоматического контроля и сортировки интегральных схем и позволяет расширить технологические возможности за счет контроля при повышенной и пониженной температуре. Сущность изобретения: устройство для контроля параметров интегральных-схем содержит магазин 1 с пеналами 2 для интегральных сх...
1780869![Устройство для контроля параметров интегральных схем Устройство для контроля параметров интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/3d325ed14f702aab19609350275931ea.jpg)
Устройство для контроля параметров интегральных схем
Использование: изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано для автоматического контроля и сортировки интегральных схем и позволяет расширить технологические возможности функциональных возможностей за счет контроля при повышенной и пониженной тем-CL пературе. Сущность изобретения: устройство для контроля параметров интегральных схем содержит магазин 1 с...
1780870