Устройство для контроля параметров интегральных схем

Устройство для контроля параметров интегральных схем

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля параметров интегральных схем по группам, которое позволяет повысить производительность труда при многогрупповой сортировке. Устройство содержит магазин с панелями для интегральных схем, приводом , датчиком и направляющими для интегральных схем. Под магазином имеется отсекатель, выполненный в виде скобы, с заслонками и направляющими. Под отсекателем расположены два модуля с контактным средством, заслонками и направляющими. Далее расположено приспособление для приема и сортировки схем, выполненное в виде трех модулей, имеющих основания, каретки с пеналами и приводом . Каждый модуль имеет датчики положения и заполнения, сортировочную стрелку с двумя направляющими в нижний модуль или в брак и в модуль данной группы. 1 з.п, ф-лы, 7 ил. сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)з В 65 Н 3/24, В 07 С 5/38

ГОСУДАР CTBE ННЫ Й КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4771204/12 (22) 02.10.89 (46) 07.10.91. Бюл. hh 37 (71) Опытно-проектное бюро Производственного объединения "Протон" (72) Н. П, Афанасьев (53) 621.867 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1521690, кл. В 65 Н 3/24, 30.08.87, (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ (57) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к устройствам для контроля параметров интегральных схем по группам, которое позволяет повысить производительность труда при многогрупповой

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для автоматического контроля и сортировки интегральных схем по группам.

Цель изобретения — повйшение производительности труда при многогрупповой сортировке, На фиг. 1 изображено устройство для контроля параметров интегральных схем, общий вид; на фиг. 2 — вид А на фиг. 1; на фиг.3 — вид Б на фиг. 1; на фиг. 4 — вид В на фиг. 1; на фиг. 5 — вид Г на фиг. 1; на фиг, 6— разрез Д-Д на фиг. 5;на фиг. 7 — разрез E — Е на фиг. 5.

Устройство для контроля параметров интегральных схем содержит магазин 1 с пеналами 2 для интегральных схем 3, приводом 4, датчиком 5 и направляющими 6 для интегральных схем 3, под ним имеется отсекатель 7, выполненный в виде скобы 8 с

„„. Ж„„1682286 А1 сортировке. Устройство содержит магазин с панелями для интегральных схем, приводом, датчиком и направляющими для интегральных схем. Под магазином имеется отсекатель, выполненный в виде скобы, с заслонками и направляющими. Под отсекателем расположены два модуля с контактным средством, заслонками и направляющими. Далее расположено приспособление для приема и сортировки схем, выполненное в виде трех модулей, имеющих основания, каретки с пеналами и приводом. Каждый модуль имеет датчики положения и заполнения, сортировочную стрелку с двумя направляющими в нижний модуль или в брак и в модуль данной группы.

1 з.п, ф-лы, 7 ил. заслонками 9, приводом 10 и направляющи- . ми 11, далее под ним расположены два модуля 12 измерительного приспособления с контактным средством 13, заслонками 14 и направляющими 15. Далее имеется приспособление 16 для сортировки и приема, выполненное в виде трех модулей 17, имеющих основания 18, каретки 19 с панелями 20 и приводом 21. Каждый модуль 17 имеет датчики положения 22 и заполнения

23 и сортировочную стрелку 24 с двумя направляющими в нижний модуль или в брак

25 и в 26 модуль данной группы, оснащен приводом 27.

Устройство работает следующим образом.

В пеналы 2 загружаются интегральные схемы 3. Пеналы устанавливаются в ячейку магазина 1. Магазин подводит с помощью привода 4 на загрузочную позицию, кото1682286 рую определяет датчик 5, ячейку с заполненным пеналом. По направляющим 6 и 11 интегральная схема 3 подается на нижню . заслонку 9 отсекателя 7, С помощью привода 10 отсекатель 7 совершает прямой ход. В результате нижняя заслонка 9 открывается, а верхняя заслонка 9 прижимает следующую интегральную схему 3 к направляющей 11. Нижняя интегральная схема 3 освобождается и попадает в зону контактного средства 13 на заслонку 14, затем привод 10 возвращает отсекатель 7 в прежнее положение, следующая интегральная схема 3 попадает на нижнюю заслонку 9 отсекэтеля 7, Далее срабатывает контактное средство 13. Интегральная схема 3 проверяется. Затем проверка происходит на втором модуле. После проверки интегральной схемы 3 сортировочная стрелка 24 устанавливается в модулях 17 приемника 16 с помощью привода 27 в нужное положение.и открывается заслонка 14 в нижнем модуле с контактным средством. Интегральная схема 3 по пути 25 отправляется в следующий модуль или в брак или же по пути 26 попадает в пенал 20, При заполнении пенала 20 с помощью датчика заполнения привод 21 перемещает каретку 19 до нового пенала 20, место нахождения которого определяет датчик 22 положения.

Преимущество предлагаемого устройства для контроля параметров интегральных схем заключается в том, что оно просто в исполнении, позволяет подключать несколько измерителей и проверять интегральные схемы по нескольким параметрам, обладает высокой производительностью

5 при сортировке интегральных схем на несколько групп.

Формула изобретения

10 1. Устройство для контроля параметров интегральных схем, содержащее магазин с на правля ющими, отсе катель, измерител ьное приспособление и средство для сортировки и приема проверенных интегральных

15 схем, от л и ч а ю щ ее с я тем, что, с целью повышения производительности труда при многогрупповой сортировке, средство для сортировки и приема выполнено в виде набора модулей для групп контролируемых схем, 20 каждый из которых содержит каретку с пеналами, имеющую шаговый привод, датчики положения и заполнения пенала, и сортировочную стрелку для брака и годных интегральных схем, имеющую привод

25 поступательного движения, при этом отсекатель содержит скобу с двумя заслонками, имеющую привод поступательного движения.

2. Устройство по и, 1, о т л и ч а ю щ е е30 с я тем, что измерительное приспособление выполнено из набора модулей, каждый из которых содержит контактное средство, подключенное к измерителю, заслонку и на- ° правляющие.

1682286

1682286

Юа/А

ФиГ 2

12 И

1582286

ФОГ

Составитель А. Папкина

Редактор Н. Тупица . Техред М.Моргентал Корректор С. Шевкун

Заказ 3378 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101