PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ПАНТУЕВ ВАЛЕРИЙ СЕМЕНОВИЧ

Изобретатель ПАНТУЕВ ВАЛЕРИЙ СЕМЕНОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для измерения толщины многослойных структур

Устройство для измерения толщины многослойных структур

  Союз CoaetcNilx Социалистических Ресиубнни О П И С А Н Я Я (п)9О564 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61) Дополнительное к авт. санд-ву (22)Заявлено 29.08.77 (21) 2518692/18-28 с присоединением заявки М (23)Приоритет Опубликовано 15.02.82 ° Бюллетень Рй 6 Дата оиубликованин оиисаннв 1 5 . 02 . 82 (51)NL. Кл. G 01 В 21/08 lbeyaepcwase4 камитвт СССР «о «елан кзабриех...

905645

Устройство для изготовления сферического шлифа

Устройство для изготовления сферического шлифа

  О П И С А Н И Е (9ЗЗЗ97 ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 03. 11.80 (21) 3000107/25-08 (5! )М. Кл. В 24 В 11/00 с присоединением заявки № Риудерстмнньй каинтет СССР ле делам изабретеннй и аткрытнй (23) П р нори тет Опубликовано 07.06.82. Бюллетень № 21 Дата опубликования описа...

933397

Устройство для измерения толщины полупроводниковых пленок

Устройство для измерения толщины полупроводниковых пленок

  ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Сеюз Советскнх Соцнаинстнческнк Респубанк < >947645 (61) Дополнительное к авт. свид-ву (22) Заявлено 2804,77 (21) 2480821/18-28 с присоединением заявки ¹â€” (23) Приоритет Опубликовано 300782. Бюллетень Р 28 (31) М. Кл.з G 01 В 21/08 Государственный комитет СССР 00 делам изобретений н открытий t 3) УДН531. 71 (088, 8) Дата...

947645