ЯВНОВ ГЕННАДИЙ НИКОЛАЕВИЧ
Изобретатель ЯВНОВ ГЕННАДИЙ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:
Устройство для контроля печатных плат
(и|91 1 Союз Советски и Социдлистичесиие Республик К - АВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (61 ) Допол н и тел ьное к а вт. свил-ву— (22)Заявлено 05.02.80 (2!) 2878158/24-21 (51)М. Кл G 0I R 31/00 с присоелинением заявки № тоеУЯэРотееииы1! комитет СССР оо делам иэобретеиий и отерыти!! (23) Приоритет Опубликовано 07.03.82. Бюллетень № 9 Дата опубликования ттписания 07..03.82 (53) УДК...
911375Способ подгонки симметричных интегральных схем
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Соввтскмк Социалистмческмк Республик Н 01 С 17/24 5IcfAbpcTKIIN4 кэмктат CCCP ае делан вэюбуатекнй «еткрытк1 (23) Приоритет Опубликовано 070382. Беллетень,ят 9 (53) УДК 621.317. .8(088.8) Дата опубликования описания 070332 иков Г,Н,Явнов (54 } СПОСОБ ПОДГОНКИ СИММЕТРИЧНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ Изобретение относится к радио...
911633Устройство для контроля планарных структур
1. УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПЛАНАРНЫХ СТРУКТУР, содержащее два оптических дефектоскопа, соединенные выходами с входами соответственно первого, и второго блоков преобразования оптических сигналов в электрические дискретные сигналы, к входам строчной и кадровой синхронизации которых подключены соответственно первый и второй выходы синхронизатора, блок сравнения,- выход которого соед...
1167620Устройство для контроля дефектов фотошаблона
Изобретение относится к исследованиям и анализу физических свойств материалов с помощью оптических методов , а именно путем исследования цвета или поглощения световых лучей при помощи электрических средств обнар океиия локальных дефектов, Цель изобретения - новышение достоверности контроля дефектов фотошаблона, которая достигается введением новых блоков и функциональных связей, п...
1233107Устройство для выделения информативных элементов контура изображения
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может быть использовано для выделения информативных участков в контурах изображений. Повьшение точности устройства обеспечивается введением четырех элементов ИСКПЮЧАЩЕЕ ИЛИ 8-1 1, четырех элементов И 12-15, двух регистров сдвига 6 и 7, видеоконтрольного устройства 17, коммутатора 16 и генератора тактовых импульсов 5, П...
1297086Устройство для моделирования резистивной тестовой структуры
Изобретение относится к аналоговой вычислительной технике. Целью устройства является повьшение быстродействия и точности моделирования. Устройство для моделирования резистивной тестовой структуры содержит диэлектрическую подложку 1, фотопроводяпщй слой 2, телевизионный проектор 3, суммирующий усилитель 4, синхронизатор 5, источник 6 питания, блок 7 задания граничных условий. § (Л...
1339593Устройство дефектоскопического контроля планарных структур
Изобретение относится к технике ТВ и повышает точность путем обеспечения инвариантности к смещению планарной структуры в поле зрения ТВ- датчика (ТВД). Устр-во содержит координатный стол 1, оптич. блок 2, ТВД 3, синхрогенератор 4, квантователь 5, видеоконтрольный блок 6, блок-7 формирования фрагмента изображения , г-р 8 тактовых импульсов, блок 9 задержки, анализатор дефектов (АД...
1381731Устройство дефектоскопического контроля планарных структур
Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет устранения углового рассовмещения между эталонной и контролируемой пленарными.структурами. Устройство дефектоскопического контроля планарных структур содержит ко СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я) 4 Гт 01 В 21/00 ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К А BTOPCHOMV СВИ...
1460610Устройство дефектоскопического контроля планарных структур
Устройство к технологии радиоаппаратостроения, а именно к устройствам для обнаружения дефектов поверхностей ,в частности, к аппаратуре неразрушающего контроля качества планарных структур, к которым относятся незагерметизированные дискретные и интегральные полупроводниковые структуры, фотошаблоны. Позволяет выявлять аномалии и дефекты топологии и может быть использовано при межопер...
1499195Устройство для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта
Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике и может использоваться в системах технического зрения для определения прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта. Цель изобретения - расширение области применения путем обеспечения возможности определения величинь: отклонения от прямолинейности горизонтального отрезка контура изображения объекта....
1628071