ТИХОНОВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ
Изобретатель ТИХОНОВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Сканирующее устройство для кристаллографических исследований Сканирующее устройство для кристаллографических исследований](https://img.patentdb.ru/i/200x200/18cca619549d6843fa0185fa85f9e7fc.jpg)
Сканирующее устройство для кристаллографических исследований
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советсинк Соцналнстнческнк Республик (1920895 (61) Дополнительмое к авт. свид-ву (5! )М. Кл. (22) Заивлено 17.07.80 (21) 2957932/18-21 с присоедмнениеат заявки М H 01 J 37/28 3Ъоударственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 15.04.82. Бюллетень М 14 Дата опублккования описания 5 .0...
920895![Устройство настройки электронно-оптической системы микрозондовых приборов Устройство настройки электронно-оптической системы микрозондовых приборов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/0872a4f678ffa2fa33a988e39fdd633f.jpg)
Устройство настройки электронно-оптической системы микрозондовых приборов
ОПИСАНИЕ 928466 ИЗОБРЕТЕНИЯ CoIo3 Соввтския Соцмапмстмчвскма Рве убпми К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. санд-ву— (22) Заявлено 25.09.80 (21) 2984324/18-21 (51)NL. Кл. Н 01 J 37/24 с мрмсоедмненмем заявки М— 5еуиРстяевя4 кемитет COCP ав двяам ямбратввяв и втяРьпвв (23)Приоритет Опубликовано 15.05.82. Бюллетень М 18 Дата опубликования опмсамня 15.0...
928466![Импульсный корпускулярный микроскоп Импульсный корпускулярный микроскоп](https://img.patentdb.ru/i/200x200/76b80303ef496434f8223afbc5cd4c39.jpg)
Импульсный корпускулярный микроскоп
««Ф « (72) Авторы изобретения В. В Рыбалко, В. М. Белоусов, А. Н. Тихонов и A. С. Савкин I (73 ) Заявитель Московский институт электронного машиностроен,ия (54) ИМПУЛЬСНЫЙ КОРПУСКУЛЯРНЫЙ МИКРОСКОП; Изобретение относится к микрозондовой технике,в частности к устройствам и их элементам для формирования и ана лиза изображений объектов. Известен импульсный корпускулярный микрос...
983822![Способ микроанализа гетерофазных объектов Способ микроанализа гетерофазных объектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/d1d0f12e93a543225e8488c70f1fc2a4.jpg)
Способ микроанализа гетерофазных объектов
СПОСОБ ЩКРОАНАЛИЗА ГЕТЕРОФАЗНЫХ ОБЪЕКТОВ а включакщий облучение исследуемого участка электронным зондом, формирование его изображения , регистрацию и измерение характеристического излуче1шя , отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа, после формирования изображения исследуемого участка изме11яют форму и размеры поперечного сечения электронного зонда по форме и раз...
1091251![Способ юстировки электромагнитной зондоформирующей системы Способ юстировки электромагнитной зондоформирующей системы](https://img.patentdb.ru/i/200x200/fdc301bd95dbb25ce1bd44c1ff624fa4.jpg)
Способ юстировки электромагнитной зондоформирующей системы
СПОСОВ ЮСТИРОВКИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ЗОВДОФОРМИРУЮЩЕЙ СИСТЕМА, включающий перемещение юстируемых элементов до положений, при которых изображения в плоскости объектодержателя , полученные для прямой и обратной полярностей тока возбуждения системы, совмещены, отличающийся тем, что, с цельюповьшге ния точности юстировки при уменьшении времени ее проведения, перед получе .кием изображен...
1157589![Диодный микроскоп Диодный микроскоп](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a888d4325a9efdefb22b2b4bc6d0482e.jpg)
Диодный микроскоп
Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано для анализа проводящих микрообъектов. Цель изобретения - повышение точности анализа при упрощении конструкции. При перемещении между зондом 2 и объектом 5 течет ток, пропорциональный расстоянию острие зонда - поверхность участка объекта , чем осуществляется сканирование объекта . Зонд 1, жестко соединенный с зо...
1201919![Зондоформирующая система растрового электронного микроскопа Зондоформирующая система растрового электронного микроскопа](https://img.patentdb.ru/i/200x200/b93b4e1299fac561bda05167e5bff993.jpg)
Зондоформирующая система растрового электронного микроскопа
Изобретение относится к системам формирования электронного зойда в растровых электронных микроскопах. Цель изобретения - уменьшение времени анализа и упрощение конструкции. .При флуктуациях высокого напряжения его переменная составляющая подается на провод5пцнй магнитопровод 3 фокусирующей линзы и объектодержатель 4. При этом обеспечивается постоянство энергии электронов зондов о...
1275585![Растровый электронный микроскоп Растровый электронный микроскоп](https://img.patentdb.ru/i/200x200/228aa1dfe850f1b5fcd5fe752d70ffb6.jpg)
Растровый электронный микроскоп
Изобретение относится к области микрозондовой техники. Может быть использовано при анализе микропотенциалов на поверхности объектов. Цель изобретения - повышение точности измерения микропотенциалов достигается путем обеспечения коррекции погрешностей при отклонении зонда и при изменении расстояния от исследуемой поверхности до вытягивающего электрода . Микроскоп содержит электрон...
1275586![Способ функционального контроля интегральных схем Способ функционального контроля интегральных схем](https://img.patentdb.ru/i/200x200/96a17166c2cd177b5d51a2d65d903adc.jpg)
Способ функционального контроля интегральных схем
Изобретение относится к микро- , зондовой технике. Цель - повьпление достоверности контроля. Она достигается тем, что в способе функционального контроля интегральных схем (ИС) с помощью специального устройства (У) из сигнала, несущего информацию о топологии и потенциалах образца, исключается сигнал, соответствующий топографическому контрасту схемы, в результате чего на видеоконтр...
1285414![Сцепная пьезокерамическая муфта Сцепная пьезокерамическая муфта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/70f901dfed0f4c045252e63ad097a097.jpg)
Сцепная пьезокерамическая муфта
Изобретение относится к машиностроению , в частности предна значено для использования в системе стабилизации антенного устройства. Цель изобретения - полное исключение влияния подшипников на величину передаваемого момента сцепной пьезокерамической муфтой. Муфта содержит механизм управления, который выполнен в виде пьезокерамических преобразователей с осевой поляризацией. Пьезокер...
1462038![Способ настройки электронно-оптической системы растрового микрозондового прибора Способ настройки электронно-оптической системы растрового микрозондового прибора](https://img.patentdb.ru/i/200x200/ae81effa077be49abc1aeb055faca03a.jpg)
Способ настройки электронно-оптической системы растрового микрозондового прибора
СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК ц1) @ Н 01 J 37/24 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ f10 ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЦТИЯМ ПРИ ГННТ СССР (21) 4034841/24-21 (22) 12.0?.86 (46) 15 ° 03.89. Бюл.,« 10 (71) Московский институт электронного машиностроения (72) В.В.Рыбалко, и А.Н.Тихонов (53) 621.385.833 (088,8) (56) Авторское свидетельство СССР 11 928466, .кл. H 01 J 37/24, 1980. Патен...
1465922![Сцепная пьезокерамическая муфта Сцепная пьезокерамическая муфта](https://img.patentdb.ru/i/200x200/4d920c7900d63e7039f8202e92006961.jpg)
Сцепная пьезокерамическая муфта
Изобретение относится к пьезокерамическим сцепным муфтам и предназначено для использования в следящем приводе системы стабилизации антенного устройства. Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение величины передаваемого крутящего момента за счет создания системы с замкнутым силовым контуром. Корпус 1 муфты жестко закреплен на конце ведомого вала 3, в корпусе на подшипника...
1511561![Способ измерения вертикальных размеров элементов топологии микрообъектов Способ измерения вертикальных размеров элементов топологии микрообъектов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e0dd1eb92412882b9df42a69361928d1.jpg)
Способ измерения вертикальных размеров элементов топологии микрообъектов
Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в сканирующих микрозондовых контрольно-измерительных приборах, например растровых микроскопах. Цель изобретения - упрощение измерений и повышение их производительности. Она достигается использованием для измерений зависимости параметра излучения после взаимодействия с элементом от угла наклона потока зондирующ...
1523915![Способ управления вентильно-регулируемым емкостным звеном Способ управления вентильно-регулируемым емкостным звеном](https://img.patentdb.ru/i/200x200/75e0066ca0a7240a1d65d0c8fbe5461e.jpg)
Способ управления вентильно-регулируемым емкостным звеном
Изобретение относится к электротехнике, а именно к управляемым емкостным цепям. Цель - улучшение гармоничного состава напряжения и снижение установленной мощности оборудования. В интервале времени после открытия тиристора происходит зарядка конденсатора 2 до порогового напряжения. После этого открываются тиристоры 5 и 7, при этом тиристор 4 закрывается. Конденсатор 2 перезаряжаетс...
1580487![Способ изготовления осесимметричных магнитопроводов Способ изготовления осесимметричных магнитопроводов](https://img.patentdb.ru/i/200x200/7d70895720ad7a09de7981c82b23ef24.jpg)
Способ изготовления осесимметричных магнитопроводов
Изобретение относится к электронно-и ионно-лучевой технике и может быть использовано при изготовлении электронно-оптических систем, например, электронных микроскопов. Цель изобретения - повышение качества изготовления магнитопроводов за счет увеличения их осевой однородности - достигается тем, что в известном способе отжиг осуществляют в осесимметричном магнитном поле, значение ин...
1663642![Установка для расконсервации деталей Установка для расконсервации деталей](https://img.patentdb.ru/i/200x200/a88cf4b39864d373c726836b27ea334b.jpg)
Установка для расконсервации деталей
Изобретение относится к оборудованию для очистки деталей и позволяет повысить удобство обслуживания. Тележку 5 с деталями по роликам, установленным на внутренней поверхности двери 3, находящейся в опущенном горизонтальном положении, с помощью цепной передачи подают в моечную камеру 1. Закрывая дверь с помощью специального пальца, закрепленного не цепной передаче и шарнирного рыча...
1697909![Станок для лазерной обработки Станок для лазерной обработки](https://img.patentdb.ru/i/200x200/24acd3698e9f9e2209944a4faa937af7.jpg)
Станок для лазерной обработки
Использование: оборудование для лазерной резки. Сущность изобретения: станок для обработки деталей лучом лазера содержит стол. На столе размещен полый корпус. В корпусе расположены магнит и установочное приспособление. Магнит может быть выполнен в виде электромагнита. Установочное приспособление может быть выполнено многосекционным с перекладинами в каждой секции. 2 з.п. ф-лы, 2...
1798091