PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ТИХОНОВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ

Изобретатель ТИХОНОВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:

Сканирующее устройство для кристаллографических исследований

Сканирующее устройство для кристаллографических исследований

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советсинк Соцналнстнческнк Республик (1920895 (61) Дополнительмое к авт. свид-ву (5! )М. Кл. (22) Заивлено 17.07.80 (21) 2957932/18-21 с присоедмнениеат заявки М H 01 J 37/28 3Ъоударственный комитет СССР ио делам изобретений и открытий (23) Приоритет Опубликовано 15.04.82. Бюллетень М 14 Дата опублккования описания 5 .0...

920895

Устройство настройки электронно-оптической системы микрозондовых приборов

Устройство настройки электронно-оптической системы микрозондовых приборов

  ОПИСАНИЕ 928466 ИЗОБРЕТЕНИЯ CoIo3 Соввтския Соцмапмстмчвскма Рве убпми К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (6l ) Дополнительное к авт. санд-ву— (22) Заявлено 25.09.80 (21) 2984324/18-21 (51)NL. Кл. Н 01 J 37/24 с мрмсоедмненмем заявки М— 5еуиРстяевя4 кемитет COCP ав двяам ямбратввяв и втяРьпвв (23)Приоритет Опубликовано 15.05.82. Бюллетень М 18 Дата опубликования опмсамня 15.0...

928466

Импульсный корпускулярный микроскоп

Импульсный корпускулярный микроскоп

  ««Ф « (72) Авторы изобретения В. В Рыбалко, В. М. Белоусов, А. Н. Тихонов и A. С. Савкин I (73 ) Заявитель Московский институт электронного машиностроен,ия (54) ИМПУЛЬСНЫЙ КОРПУСКУЛЯРНЫЙ МИКРОСКОП; Изобретение относится к микрозондовой технике,в частности к устройствам и их элементам для формирования и ана лиза изображений объектов. Известен импульсный корпускулярный микрос...

983822

Способ микроанализа гетерофазных объектов

Способ микроанализа гетерофазных объектов

  СПОСОБ ЩКРОАНАЛИЗА ГЕТЕРОФАЗНЫХ ОБЪЕКТОВ а включакщий облучение исследуемого участка электронным зондом, формирование его изображения , регистрацию и измерение характеристического излуче1шя , отличающийся тем, что, с целью повышения точности анализа, после формирования изображения исследуемого участка изме11яют форму и размеры поперечного сечения электронного зонда по форме и раз...

1091251

Способ юстировки электромагнитной зондоформирующей системы

Способ юстировки электромагнитной зондоформирующей системы

  СПОСОВ ЮСТИРОВКИ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ЗОВДОФОРМИРУЮЩЕЙ СИСТЕМА, включающий перемещение юстируемых элементов до положений, при которых изображения в плоскости объектодержателя , полученные для прямой и обратной полярностей тока возбуждения системы, совмещены, отличающийся тем, что, с цельюповьшге ния точности юстировки при уменьшении времени ее проведения, перед получе .кием изображен...

1157589


Диодный микроскоп

Диодный микроскоп

  Изобретение относится к области микроскопии и может быть использовано для анализа проводящих микрообъектов. Цель изобретения - повышение точности анализа при упрощении конструкции. При перемещении между зондом 2 и объектом 5 течет ток, пропорциональный расстоянию острие зонда - поверхность участка объекта , чем осуществляется сканирование объекта . Зонд 1, жестко соединенный с зо...

1201919

Зондоформирующая система растрового электронного микроскопа

Зондоформирующая система растрового электронного микроскопа

  Изобретение относится к системам формирования электронного зойда в растровых электронных микроскопах. Цель изобретения - уменьшение времени анализа и упрощение конструкции. .При флуктуациях высокого напряжения его переменная составляющая подается на провод5пцнй магнитопровод 3 фокусирующей линзы и объектодержатель 4. При этом обеспечивается постоянство энергии электронов зондов о...

1275585

Растровый электронный микроскоп

Растровый электронный микроскоп

  Изобретение относится к области микрозондовой техники. Может быть использовано при анализе микропотенциалов на поверхности объектов. Цель изобретения - повышение точности измерения микропотенциалов достигается путем обеспечения коррекции погрешностей при отклонении зонда и при изменении расстояния от исследуемой поверхности до вытягивающего электрода . Микроскоп содержит электрон...

1275586

Способ функционального контроля интегральных схем

Способ функционального контроля интегральных схем

  Изобретение относится к микро- , зондовой технике. Цель - повьпление достоверности контроля. Она достигается тем, что в способе функционального контроля интегральных схем (ИС) с помощью специального устройства (У) из сигнала, несущего информацию о топологии и потенциалах образца, исключается сигнал, соответствующий топографическому контрасту схемы, в результате чего на видеоконтр...

1285414

Сцепная пьезокерамическая муфта

Сцепная пьезокерамическая муфта

  Изобретение относится к машиностроению , в частности предна значено для использования в системе стабилизации антенного устройства. Цель изобретения - полное исключение влияния подшипников на величину передаваемого момента сцепной пьезокерамической муфтой. Муфта содержит механизм управления, который выполнен в виде пьезокерамических преобразователей с осевой поляризацией. Пьезокер...

1462038


Способ настройки электронно-оптической системы растрового микрозондового прибора

Способ настройки электронно-оптической системы растрового микрозондового прибора

  СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК ц1) @ Н 01 J 37/24 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ f10 ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЦТИЯМ ПРИ ГННТ СССР (21) 4034841/24-21 (22) 12.0?.86 (46) 15 ° 03.89. Бюл.,« 10 (71) Московский институт электронного машиностроения (72) В.В.Рыбалко, и А.Н.Тихонов (53) 621.385.833 (088,8) (56) Авторское свидетельство СССР 11 928466, .кл. H 01 J 37/24, 1980. Патен...

1465922

Сцепная пьезокерамическая муфта

Сцепная пьезокерамическая муфта

  Изобретение относится к пьезокерамическим сцепным муфтам и предназначено для использования в следящем приводе системы стабилизации антенного устройства. Цель изобретения - упрощение конструкции и повышение величины передаваемого крутящего момента за счет создания системы с замкнутым силовым контуром. Корпус 1 муфты жестко закреплен на конце ведомого вала 3, в корпусе на подшипника...

1511561

Способ измерения вертикальных размеров элементов топологии микрообъектов

Способ измерения вертикальных размеров элементов топологии микрообъектов

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в сканирующих микрозондовых контрольно-измерительных приборах, например растровых микроскопах. Цель изобретения - упрощение измерений и повышение их производительности. Она достигается использованием для измерений зависимости параметра излучения после взаимодействия с элементом от угла наклона потока зондирующ...

1523915

Способ управления вентильно-регулируемым емкостным звеном

Способ управления вентильно-регулируемым емкостным звеном

  Изобретение относится к электротехнике, а именно к управляемым емкостным цепям. Цель - улучшение гармоничного состава напряжения и снижение установленной мощности оборудования. В интервале времени после открытия тиристора происходит зарядка конденсатора 2 до порогового напряжения. После этого открываются тиристоры 5 и 7, при этом тиристор 4 закрывается. Конденсатор 2 перезаряжаетс...

1580487

Способ изготовления осесимметричных магнитопроводов

Способ изготовления осесимметричных магнитопроводов

  Изобретение относится к электронно-и ионно-лучевой технике и может быть использовано при изготовлении электронно-оптических систем, например, электронных микроскопов. Цель изобретения - повышение качества изготовления магнитопроводов за счет увеличения их осевой однородности - достигается тем, что в известном способе отжиг осуществляют в осесимметричном магнитном поле, значение ин...

1663642


Установка для расконсервации деталей

Установка для расконсервации деталей

  Изобретение относится к оборудованию для очистки деталей и позволяет повысить удобство обслуживания. Тележку 5 с деталями по роликам, установленным на внутренней поверхности двери 3, находящейся в опущенном горизонтальном положении, с помощью цепной передачи подают в моечную камеру 1. Закрывая дверь с помощью специального пальца, закрепленного не цепной передаче и шарнирного рыча...

1697909

Станок для лазерной обработки

Станок для лазерной обработки

  Использование: оборудование для лазерной резки. Сущность изобретения: станок для обработки деталей лучом лазера содержит стол. На столе размещен полый корпус. В корпусе расположены магнит и установочное приспособление. Магнит может быть выполнен в виде электромагнита. Установочное приспособление может быть выполнено многосекционным с перекладинами в каждой секции. 2 з.п. ф-лы, 2...

1798091