PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ВАСЕВ ЕВГЕНИЙ НИКОЛАЕВИЧ

Изобретатель ВАСЕВ ЕВГЕНИЙ НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:

Способ дистанционного измерения изменения намагниченности насыщения ферроматериалов и устройство для его осуществления

Способ дистанционного измерения изменения намагниченности насыщения ферроматериалов и устройство для его осуществления

  ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (958993,ф (61) Дополнительное к авт. свид-ву— 151)М Nn з (22) Заявлено18.06. 80 (21)2940214/18-21 С 61 К 33/12 с присоединением заявки ¹â€” Государственный комитет СССР по делам. изобретений. и открытий (23) Приоритет Опубликовано15. 09. 82Бюллетень,¹ 34 153 УДК621. 317. .44(088,8)...

958993

Способ определения изменения параметров свч-двухполюсника при воздействии импульса дестабилизирующего фактора

Способ определения изменения параметров свч-двухполюсника при воздействии импульса дестабилизирующего фактора

  СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ СВЧ-ДВУХЛОЛЮСНИКА ПРИ ВОЗДЕЙСТВИИ ШШУЛЬСА ДЕСТАБИЛИЗИРУЮЩЕГО ФАКТОРА,- включающий возбуждение волны в волноводе, к выходу которого подсоединен исследуемьм СВЧ-двухполюсник, измерение распределения напря яения в волноводе.с помощью зонда воздействие на СВЧ-двухполюсника импульсом дестабилизирующегофактора,- измерение изменившегося распределе...

1185266

Спектральный прибор для скоростного сканирования спектра

Спектральный прибор для скоростного сканирования спектра

  Изобретение позволяет повысить точность измерений быстропротекающих процессов. Спектральный прибор состоит из входной щели 1, коллиматорного и камерного объективов 2 и 4, диспергирующего элемента 3, плоского сканирующего зеркала 5, двух выходных щелей 6 и двух фотоприемников 7. Диспергированный световой пучок, отразившись от плоского сканирующего зеркала 5, совершающего колебател...

1245896

Способ определения параметров кристаллов при одноосном сжатии в электрическом поле

Способ определения параметров кристаллов при одноосном сжатии в электрическом поле

  Изобретение относится к способам определения параметров материалов при их деформации. Цель изобретения - расширение информативности способа испытания образцов на сжатие. На испытуемый образец с помощью контактов 4,5 одновременно подают постоянное напряжение источника 1 постоянного напряжения и от генератора 7 через разделительную емкость 8 - переменное напряжение и в процессе сжа...

1624356

Способ изготовления оптических элементов из кристаллов дигидрофосфата калия и его дейтерированных аналогов

Способ изготовления оптических элементов из кристаллов дигидрофосфата калия и его дейтерированных аналогов

  Изобретение относится к способам понижения оптической плотности изделий оптики и может быть использовано для изготовления оптических элементов из кристаллов дигидрофосфата калия и его дейтерированных аналогов, в частности для изготовления удвоителей и утроителей частоты лазерного излучения. Цель изобретения - увеличение пропускания и выхода годных оптических элементов из кристалл...

1730223


Способ обработки кристаллов l @ f

Способ обработки кристаллов l @ f

  Использование: в оптике анизотропных сред при создании лазерных сред на основе центров окраски в ЩГК для лазеров с перестраиваемой длиной волны светового излучения . Сущность изобретения: облученные гамма-квантами до доз 107-108 Р монокристаллы LIF постадийно отжигают при температурах 280-290°С, 300-310°С, 146-155°С с выдержкой не более 2-3 мин и скоростью...

1772223

Способ исследования кинетики процесса микровдавливания

Способ исследования кинетики процесса микровдавливания

  Изобретение может быть использовано при изучении кинетики микровдавливания индентора в образцы материалов с целью получения кинетических характеристик этого процесса. Способ заключается в том, что в процессе вдавливания индентора в поверхность образца периодически на 3-5 с разгружают индентор и фиксируют высоту его подъема из образца, причем после каждой разгрузки снова вдавливаю...

1796999

Способ повышения оптического пропускания кристаллов хлорида свинца

Способ повышения оптического пропускания кристаллов хлорида свинца

  Использование: в области исследования точечных дефектов в кристалле хлорида свинца. Способ включает механическую обработку кристалла по направлению распространения светового потока до заданной толщины и облучение их световым потоком УФ-части спектра до флюенса (3,8 ±0,7) 105 Эрг/мм2. Пропускание в области УФ спектра (180-300) нм увеличено на 10-15%. Уменьшены потери области при и...

1816815

Способ выращивания монокристаллов группы дигидрофосфата калия (кдр)

Способ выращивания монокристаллов группы дигидрофосфата калия (кдр)

  Использование: при выращивании кристаллов КДР и ДКДР с пониженным оптическим поглощением в УФ-области спектра и уменьшенным объемом дефектной призат-. равочной области. Сущность изобретения: в процессе роста кристаллов затравку колеблют параллельно ее оси Z с амплитудой (50- 90)±10 мкм и частотой ()±20 Гц. Это позволяет уменьшить оптическую плотность кристаллов в диапазоне 200-30...

1819921