PatentDB.ru — поиск по патентным документам

ПЕТРОВ СЕРГЕЙ ПАВЛОВИЧ

Изобретатель ПЕТРОВ СЕРГЕЙ ПАВЛОВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для сопряжения блоков памяти

Устройство для сопряжения блоков памяти

  Союз Советскии Социапистическик Ресиубпин ОП ИСАНИ Е ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ii 964649 (61) Дополнительное к авт. санд-ву (22)Заявлено 18.03.81 (21) -3261545/18-24 (51)M. Кл. G Об F 13/02 с присоединением заявки № 3Ъоударстееииый комитет СССР ао делам изобретений н открытий (23) Приоритет г (53) УДК 681.327 (088. 8) Опубликовано 07. 10. 82. Бюллетень № 37...

964649

Синхронный преобразователь длительности фазоманипулированного сигнала в частоту тактовых импульсов

Синхронный преобразователь длительности фазоманипулированного сигнала в частоту тактовых импульсов

  СИНХРОННЫЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДЛИТЕЛЬНОСТИ ФАЗОМАНИПУЛИРОВАННОГО СИГНАЛА В ЧАСТОТУ ТАКТОВЫХ ИМПУЛЬСОВ, содержащий формирователь импульсов по пе репадам воспроизведенного сигнала, электронный ключ, триггер, выход которого соединен с выходной шиной, управляемый генератор, импульсный выход которого подключен к счетному входу триггера, ко.ммутатор , блок управления и общую тину, соедине...

1045255

Способ отбраковки ненадежных кмоп ис

Способ отбраковки ненадежных кмоп ис

  Изобретение может быть использовано при производстве радиоэлектронной аппаратуры. Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки ненадежных комплементарных интегральных схем (ИС), ИС устанавливают в термокамеру, затем в течение 5-7 мин выдерживают при 50-70°С и измеряют ток потребления ИС. Затем аналогичная операция производится нри 90-120°С. Для каяудой ИС...

1239658

Способ отбраковки кмоп интегральных схем по уровням надежности

Способ отбраковки кмоп интегральных схем по уровням надежности

  Изобретение относится к технической диагностике. Может быть использовано для повышения надежности электронной аппаратуры, построенной на КМОП микросхемах. Цель изобретения - повышение отбраковки потенциально надежных КМОП микросхем. На интегральную схему (ИС) подают номинальное напряжение питания и входные сигналы. Измеряют у всех ИС, входящих в контролируемую партию, величину ак...

1269061

Способ диагностического контроля тензорезистивных полупроводниковых интегральных преобразователей

Способ диагностического контроля тензорезистивных полупроводниковых интегральных преобразователей

  Изобретение относится к электронной технике. Цель изобретения - повышение достоверности и быстродействия контроля. Контроль напряжений разбаланса в диагоналях мостовой структуры интегральных преобразователей (ИП) проводится при различной полярности питания. Структуры ИП нагреваются до температуры теплового баланса кристалла и подается постоянное напряжение. Положительный и отрица...

1430897


Способ контроля надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем

Способ контроля надежности полупроводниковых приборов и интегральных схем

  Изобретение относится к области электронной техники, в частности к контролю полупроводниковых приборов (ПП) и интегральных схем (ИС). Цель изобретения - повьшение достоверности контроля надежности ПП и ИС. При подаче на ПП или ИС напряжения питания измеряют реактивные составляющие мощности переходных процессов Р, и Р, , соответствующие фронту и спаду импульса напряжения питания....

1430913

Способ контроля качества интегральных схем

Способ контроля качества интегральных схем

  Изобретение относится к области контроля изделий электронной техники. Цель изобретения - сокращение времени и повышение достоверности контроля за счет оптимального, выбора информативных цепей и величины измерительного тока. Реализация способа иллюстрируется примером. Партия микросхем подвергается измерению т-характеристик между следующими парами выводов; 4-6, 4-8, 5-4, 6-7. После...

1458842