АНДРОСОВ ИГОРЬ МИХАЙЛОВИЧ
Изобретатель АНДРОСОВ ИГОРЬ МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:
Устройство для механических испытаний микрообразцов на сжатие к разрывной машине
ОПИСАНИЕ 4) ИЗОБРЕТЕНИЯ Союз Соеетскии Социалистических Республик К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ {6!) Дополнительное к авт. сеид-ву— (22) Заявлено 240381 (23) 3263841/25-28 слрисоеднненнем заявки ¹â€” (23) Приоритет— Опубликовано 2301.83. Бюллетень ¹ . 3 Дата опубликования описания 23.01.83 (фф)М Кд 3 а 01 Н 3/18 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открыти...
991241Способ подготовки образца при определении трещиностойкости хрупких материалов
ОП ИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕН ИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (I I) 1004806 (6l ) Дополнительное к авт. свил-ву(22) Заявлено 18.08.81 (21 } 3333548/22-26 с присоединением заявки № (23) Приоритет Опубликовано 15.03 83. Бюллетень № 10 Дата опубликования описания 17.03.83 (5I )Nl. Кл. (д 01 Я 1/28 Гесударстеелкый кемитет лв делам изобретений и...
1004806Способ подготовки образца при испытании на трещиностойкость
Изобретение относится к испытательной технике, в частности к испытаниям на трещиностойкость. Цель изобретения - обеспечение испытания об разцов из нитридной керамики путем создания на ее поверхности окисной пленки. Образец из нитридной керамиш облучают импульсами лазера длительностью каждого импульса 10 - 10 с. Энергия каждого импульса обеспечивает диссоциацию исходного материала...
1375999Устройство для определения динамической твердости материалов
Изобретение относится к неразрушающему контролю физико-механических свойств материалов, например твердости. Устройство обеспечивает исключение влияния пластической деформации материала контролируемого образца на результаты измерений и повышает их точность. Это достигается за счет введения дополнительного электромагнита с электронным узлом управления для перемещения контролируемог...
1820297Способ измерения размера углубления на поверхности токопроводящей детали
Изобретение относится к способам испытания материалов, а именно измерения микротвердости тонких токопроводящих покрытий и ультратонкого поверхностного слоя токопроводящих материалов. Для этого используют индентор из токопроводящего сверхтвердого материала, например полупроводникового алмаза. После получения отпечатка выводят индентор из зоны вдавливания, прикладывают разность пот...
1825966