ПЕНСКИЙ НИКОЛАЙ ВАДИМОВИЧ

  ОПИСАНИЕ -ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ Союз Советских Социалистических Республик (1 j I 005198 (61) Дополнительное к авт..саид-ву (22) Заявлено 25.12.80 (2f) 3224565/22-02 tsj)h4 RN з с присоединением заявки ¹Н 01 Р 1/10 Н 01 F 1/34 Государственный комитет СССР по делам изобретений и открытий (23) ПриоритетI Опубликовано150383, Бюллетень Р 10 (53) УДК621. 318, ....

  Изобретение относится к устройствам управления технологическими процессами, к дискретным регуляторам температуры и может быть использовано , например, в металлургическом производстве или производстве интегральных схем. Цель изобретения - повьпнение точности регулятора. Дискретный регулятор температуры печей содержит установленный в печи 1 набор ампул 2 с эталонными веществами с п...

  Изобретение относится к физическим методам исследования вещества, а именно к термическому анализу. Цель изобретения - повышение чувствительности и точности анализа при высоких скоростях нагрева (охлаждения). Наобразец на расстоянии, равном габаритному размеру, помещают спаи термопар . Образец нагревают с заданной скоростью и при этом определяют максимальную . и минимальную ь.Т „...

  Изобретение относится к испытательной технике. Цель - повышение точности определения адгезии пленки путем учета сил трения режущих кромок о поверхность подложки. На столе 2 закрепляют подложку 23 с пленкой 24. Настраивают датчик 13 регистрации глубины внедрения на момент касания резцами 7,8,11 поверхности подложки 23. Подводят режущие кромки 9,10,12 до касания их с поверхностью пл...

  Изобретение относится к способам юстиоовки спектрометров, в частности к способам юстировки, электронной и ионной пушек, и может найти применение в оже-спектрометрах или для установок молекулярно-лучевой. эпитаксии Целью изобретения является упрощение процесса юстировки и повышение точности измерения концентрационных профилей за счет увеличения точности совмещения электронного и и...

  Изобретение относится к области определения эмиссионных свойств материалов при проведении исследований методами вторично-электронной эмиссии и применяется для определения работы выхода электронов в материалах, необходимой для расчета как элементов эмиссионной электИзобретение относится к области определения эмиссионных свойств матеоиалов при проведении исследований методами втори...

  Изобретение относится к физическим методам исследования материалов, в частности к устройствам для термического анализа . Цель изобретения - повышение экспрессности анализа и расширение диапазона исследуемых объектов. Устройство содержит металлическую камеру с размещенными в ней держателем образцов и соединенной с -блоком регистрации термопарой, печь и резервуар с охлаждающей жидк...