СЕРГЕЙЧУК ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ
Изобретатель СЕРГЕЙЧУК ВЛАДИМИР ВАСИЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для вычисления координат одномерного раскроя линейных неоднородных материалов
-УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫЧИС , ЛЕНИЯ КООРДИНАТ ОДНОМЕРНОГО РАСКРОЯ ЛИНЕЙНЫХ НЕОДНОРОДНЫХ МАТЕРИАЛОВ, соаержашее измерительный элемент, блок согласования, блок , сравнения, четыре элемента И, датчик линейных перемещений, отличающееся тем, что, с целью повьпиения точности, в него введены блок выделения . экстремалы1ых значений напряжений, блок памяти, второй блок сравнения, цва блока умно...
1051544
Вычислительный прибор
ВЫЧИСЛИТЕЛЬНЫЙ ПРИБОР, содержащий планшет, на котором перпендикулярно один к другому расположены первый и второй направляющиеэлементы , на первом направляющем элементе перпендикулярно к нему устаг новлена подвижно первая линейка, вторую линейку, в которой выполнена продольная прорезь, нить, один конец которой прикреплен к штифту, а второй - к натяжному приспособлению , движки, пе...
1095192
Вычислительный прибор
СОЮЗ СОВЕТСНИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ РЕСА ЛИН (! 9) (3! ) 140 4(5!) G 06 G 1/04 1ОСУДАРСТВЕНН Й НОМИ ET CCCP ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТНРЦТИЙ 4 .ИО 9д и4 ";. .ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ Х АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ I (21) 3686818/24-24 (22) 06.01.84 (46) 07.07.85. Бюл. N- 25 (72) E ° В. Бодянский, Б.И. Мовшиц, О.К. Илюнин, В.А. Коросташов, . В.В. Свиридов и В.В. Сергейчук (71) Харьков...
1166140
Устройство для обработки измерений параметров линейных неоднородных материалов
Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для поиска на полупроводниковом монокристалле точек, характеризующих-. ся, например, значениями удельного сопротивления. Целью изобретения является повышение точности определения координат точек с требуемыми значениями электрофизических параметров и расширение функциональных возможностей устройства путем использования...
1206799
Устройство для обработки результатов измерений линейных неоднородных материалов
Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано для обработки измерения параметров и калибровки линейных .неоднородных материалов с заданной точностью , например для измерения удельного сопротивления и калибровки полупровод:никовь1х монокристаллов. Делью изобретения является повьшение б ыстродействия. Устройство содержит блоки вычитания , блоки дeлeн я, б...
1244675
Устройство для вычисления координат одномерного раскроя линейных неоднородных материалов
Изобретение относится к вычислительной технике. Целью изобретения является расн1ирение функциональных возможностей за счет обеспечения возможности нахождения координат точек с необходимьими значениями электрофизически.х параметров. Устройство содержит блок 1 задания опорного напряжения, блок 2 регистрации, блок 3 сравнения, первый блок 4 вычитания, сумматор 5, блок 7 умножения, б...
1312604