Устройство для обработки измерений параметров линейных неоднородных материалов

Устройство для обработки измерений параметров линейных неоднородных материалов

Реферат

Изобретение относится к вычислительной технике и может использоваться для поиска на полупроводниковом монокристалле точек, характеризующих-. ся, например, значениями удельного сопротивления. Целью изобретения является повышение точности определения координат точек с требуемыми значениями электрофизических параметров и расширение функциональных возможностей устройства путем использования различных методов измерения удельного сопротивления материала, математических моделей удельного сопротивления и методов адаптивной фильтрации результатов измерений. Устройство содержит блок задания опорного напряжения, сумматоры, два блока сравнения , два измерительных элемента, два датчика линейных перемещений, блок памяти, четыре блока умножения, блок регистрации, блок коммутации, элемент ИЛИ, два блока вычитания, блок согласования. 1 ил. i W ю о а со