ШЕХТМАН ВИКТОР МИХАЙЛОВИЧ
Изобретатель ШЕХТМАН ВИКТОР МИХАЙЛОВИЧ является автором следующих патентов:
Способ определения локальных и средних рентгенооптических характеристик монокристаллов
1. СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЛОКАЛЬНЫХ И СРЕДНИХ РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК МОНОКРИСТАЛЛОВ, заключающийся в том, что монокристалл облучают узким параллельным пучком монохроматического рентгеновского излучения , устанавливают в отражающее положение, поворачивают вокруг оси, перпендикулярной плоскости дифракции , и регистрируют распределение интенсивности дифрагированного излучения...
1057823Способ определения параметров поверхностного слоя реального монокристалла
Изобретение относится к исследованию материалов с помощью дифракции рентгеновских лучей. Цель изобретения - повышение экспрессности способа. Предложен способ, позволяющий построить распределение по углам мозаик в нарушенном слое реапьг ного монокристалла и выделить из интегральной кривой качания исследуемого монокристалла ту ее часть, физическое утирание которой определяется толь...
1303913