PatentDB.ru — поиск по патентным документам

Тюлькин В.М.

Изобретатель Тюлькин В.М. является автором следующих патентов:

Способ уменьшения дефектности двухслойного диэлектрика в структуре проводник - нитрид кремния - окисел кремния - полупроводник

Способ уменьшения дефектности двухслойного диэлектрика в структуре проводник - нитрид кремния - окисел кремния - полупроводник

 (19)SU(11)1108962(13)A1(51)  МПК 6    H01L21/04(12) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯк авторскому свидетельствуСтатус: по данным на 17.01.2013 - прекратил действиеПошлина: (54) СПОСОБ УМЕНЬШЕНИЯ ДЕФЕКТНОСТИ ДВУХСЛОЙНОГО ДИЭЛЕКТРИКА В СТРУКТУРЕ ПРОВОДНИК - НИТРИД КРЕМНИЯ - ОКИСЕЛ КРЕМНИЯ - ПОЛУПРОВОДНИК Изобретение относится к технологии производства полупроводниковых приб...

1108962

Запоминающее устройство и способ управления им

Запоминающее устройство и способ управления им

 (19)SU(11)1110315(13)C0(51)  МПК 5    G11C11/34Статус: по данным на 10.01.2013 - прекратил действиеПошлина: (54) ЗАПОМИНАЮЩЕЕ УСТРОЙСТВО И СПОСОБ УПРАВЛЕНИЯ ИМ Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при создании интегральных микросхем запоминающего устройства (ЗУ) с энергонезависимым хранением информации. Известно запоминающее у...

1110315

Элемент памяти

Элемент памяти

 (19)SU(11)1253350(13)C0(51)  МПК 5    G11C11/40Статус: по данным на 17.01.2013 - прекратил действиеПошлина: (54) ЭЛЕМЕНТ ПАМЯТИ Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в интегральных запоминающих устройствах (ЗУ), в частности при построении схем резервирования строк и столбцов в накопителе, обеспечивающих ремонтоспособность ИС...

1253350

Ячейка памяти

Ячейка памяти

 Изобретение относится к вычислительной технике, в частности к запоминающим устройствам, может быть использовано в энергонезависимых ЗУ с произвольной выборкой информации и является усовершенствованием известного устройства по авт. св. N N 1115106. Целью изобретения является ускорение восстановления информации в ячейке памяти. Поставленная цель достигается тем, что в ячейку памяти введены...

1308063

Ячейка памяти

Ячейка памяти

 Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в энергонезависимых запоминающих устройствах с произвольной выборкой. Целью изобретения является повышение надежности восстановления информации ячейки памяти. Для достижения этой цели в энергонезависимый элемент памяти введены два коммутирующих транзистора, а управление процессом восстановления информации производитс...

1318096


Матричный накопитель на мдп-транзисторах с изменяемым пороговым включением

Матричный накопитель на мдп-транзисторах с изменяемым пороговым включением

 Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано при проектировании интегральных схем электрически репрограммируемых постоянных запоминающих устройств. Целью изобретения является повышение быстродействия накопителя. Поставленная цель достигается благодаря уменьшению паразитной емкости разрядной шины, время зарядки которой при считывании составляет 40 - 60% от общег...

1378681

Способ восстановления информации в ячейке памяти

Способ восстановления информации в ячейке памяти

 Изобретение относится к вычислительной технике. Цель изобретения - увеличение срока службы ячейки памяти. Поставленная цель достигается тем, что перед подачей напряжения на вход программирования ячейки памяти величину напряжения питания уменьшают до значения, меньшего номинального значения напряжения питания, но большего минимального напряжения хранения информации в ячейке памяти, а после...

1501801

Составной мдп-транзистор

Составной мдп-транзистор

 Изобретение относится к вычислительной технике и может быть использовано в полупроводниковых интегральных схемах электрически перепрограммируемых постоянных запоминающих устройствах. Целью изобретения является расширение области применения составного МДП-транзистора. Поставленная цель достигается за счет того, что затвор каждого последующего однотипного МДП-транзистора соединен с истоком...

1501803

Способ определения напряжения программирования ячейки памяти на основе пноп-структуры

Способ определения напряжения программирования ячейки памяти на основе пноп-структуры

 Изобретение относится к способам измерения электрических параметров электрически репрограммируемых запоминающих устройств на основе структуры проводник - нитрид кремния - оксид кремния - полупроводник и может быть использовано для контроля напряжения программирования на этапах разработки и серийного производства. Целью изобретения является повышение производительности способа. Поставленна...

1582834

Способ восстановления репрограммируемых запоминающих устройств

Способ восстановления репрограммируемых запоминающих устройств

  Изобретение относится к способам электрических измерений, в частности, электрических параметров электрически репрограммируемых запоминающих устройств. Целью изобретения является повышение надежности запоминающих устройств. Поставленная цель достигается за счет того, что после выполнения заданного количества циклов перепрограммирования проводят термообработку при температуре 60 - 200С про...

1604053