PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КИСЕЛЕВ ВЛАДИМИР АНАТОЛЬЕВИЧ

Изобретатель КИСЕЛЕВ ВЛАДИМИР АНАТОЛЬЕВИЧ является автором следующих патентов:

Устройство для обработки оптической детали

Устройство для обработки оптической детали

  УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОБРАБОТКИ ОПТИЧЕСКОЙ ДЕТАЛИ, содержащее экранирующую маску, расположенную в вакуумной камере между ионным источником и держателем оптической детали , установленным с возможностью вращения и кинематически соединенным с первым вращающим узлом, подсоединенным к первому выходу формирователя управляющих сигналов, второй выход которого подключен к второму вращающему узлу...

1137519

Способ контроля печатных плат с отверстиями

Способ контроля печатных плат с отверстиями

  СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ С ОТВЕРСТИЯМИ, включающий получение светочувствительного слоя на поверхности фольгированной заготовки, формирование На ней изображения путем экспонирования слоя череэ фотошаблон , определение положения отверстий платы относительно элементов изображения , сравнение с эталонной платой, о тли чающий ся тем, что, с целью повышения производительности проц...

1148132

Способ травления поверхности изделий из диэлектрических материалов

Способ травления поверхности изделий из диэлектрических материалов

  Изобретение относится к области технологии оптических деталей, а именно к способам ионно-лучевой обработки деталей, изготовленных из диэлектрических материалов, и может быть использовано в оптике и оптоэлектронике. С целью повышения скорости процесса травления поверхности изделий из диэлектрических материалов ведут путем воздействия сколлимированным пучком ионов, в который введен...

1527201

Устройство для определения параметров шероховатости оптических поверхностей методом дифференциального светорассеяния

Устройство для определения параметров шероховатости оптических поверхностей методом дифференциального светорассеяния

  Изобретение относится к контрольно-измерительной технике. Целью изобретения является повышение точности и производительности определения параметров за счет непосредственного измерения интенсивности падающего излучения, автоматизации процесса измерений и обработки полученной информации. Путем дискретного вращения образца 26, расположенного по ходу зондирующего излучения лазера 1, о...

1663423