ЗЕЛЬЦЕР ИГОРЬ АРКАДЬЕВИЧ

  Изобретение относится к аппаратуре для анализа тонких монокристаллических слоев методом возбуждения вторичной эмиссии исследуемого слоя в условиях дифракции рентгеновского излучения. Целью изобретения является расширение диапазона и повышение точности исследования. В устройстве реализована трехкристальная схема рентгеновского спектрометра, первый и второй кристаллы-монохроматоры...

  Изобретение относится к аппаратуре для неразрушающего анализа тонких приповерхностных слоев монокристалла . Цель - повьшение точности исследования совершенства структуры монокристаллических слоев при низких значениях детектируе1 1х сигналов за счет обеспечения динамической стабильности интенсивности возбуждающего рентгеновского пучка. В вакуумной камере образца между входным окно...