АНУФРИЕВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ
Изобретатель АНУФРИЕВ АЛЕКСАНДР НИКОЛАЕВИЧ является автором следующих патентов:
![Способ измерения параметров затухания спин-волновых возбуждений в магнитных пленках Способ измерения параметров затухания спин-волновых возбуждений в магнитных пленках](https://img.patentdb.ru/i/200x200/e96d0952a7e215ad817018cb8d3d4d96.jpg)
Способ измерения параметров затухания спин-волновых возбуждений в магнитных пленках
Изобретение относится к технической физике и может найти применение при технологическом контроле физических параметров магнитных пленок, в том числе эпитаксиальных феррит-гранатовых систем. Целью изобретения является повышение производи ельности и точности измерений параметров затухания спин-волновых возбуждений в магнитных пленках, С этой целью в контур возбуждения, помещается и...
1242888![Способ определения удельной поверхности магнитных порошков Способ определения удельной поверхности магнитных порошков](https://img.patentdb.ru/i/200x200/11325cda57b1775c53e7f9b6f523906a.jpg)
Способ определения удельной поверхности магнитных порошков
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано при оценке качества магнитных порошков. Целью изобретения является повышение точности метода за счет учета внутренней пористости и расширение области применения в сторону мелкодисперсных порошков. В способе определения удельной поверхности порошка, включающем приготовление порошка из спеченного брикета, окатыша и...
1589145![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/9ce88e5d7e82ba8b95859b9d535e70b8.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Изобретение относится к технической физике, в частности к электроизмерительной технике, и может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых пленок. Цель изобретения - повышение точности за счет увеличения чувствительности и выбора оптимального диапазона частот. Способ состоит в том, что размещают на катушке индуктивности колебате...
1642410![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/56b6d609224b2895b9e67bcc3ac50e46.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Изобретение относится к технической физике и может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых пленок. Цель изобретения - повышение точности. Способ состоит в дополнитель ном освещении пленки источником света, спектральная характеристика и мощность которого обеспечивают насыщение ловушек захвата в полупроводниковой пленке, и пров...
1758589![Датчик относительной влажности и температуры Датчик относительной влажности и температуры](https://img.patentdb.ru/i/200x200/74e34d0603687408b3f86c7afdfb840b.jpg)
Датчик относительной влажности и температуры
СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (st)s G 01 N 27/00 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ ПРИ ГКНТ СССР Ig i 1! ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4849617/25 (22) 28.05.90 (46) 23.09.92. Бюл. ¹ 35 (71) Всесоюзный научно-исследовательский центр по изучению свойств поверхности и вакуума (72) А, Н. Ануфриев, М,Н, Титов и Ю.А. Ходос (56...
1763960![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/f2b5782c3cf03d431b11e764f3cc9a42.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Изобретение относится к технической физике, может быть использовано для неразрушающего контроля удельного электросопротивления полупроводниковых пленок и является усовершенствованием основного изобретения по авт. св. № 1642410. Исследуемую полупроводниковую пленку помещают в кювету из немагнитного непроводящего ток материала, наполненную диэлектрической немагнитной жидкостью , те...
1774283![Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок](https://img.patentdb.ru/i/200x200/646cccf2fef45ca11c74853c430f0de9.jpg)
Способ бесконтактного измерения удельного электросопротивления полупроводниковых пленок
Использование: в технической физике и измерительной технике. Сущность изобретения: способ состоит в помещении образца в один из элементов высокочастотного (ВЧ) колебательного контура, измерении изменения добротности ВЧ контура, дополнительно параллельно катушке ВЧ колебательного контура подключают измерительный конденсатор , выполненный в виде двух проводящих обкладок, расположен...
1835522