ХВАН ВЛАДИМИР РОМАНОВИЧ

  Изобретение относится к оборудованию для рентгеноструктурного анализа и может быть использовано, при калибровке и изготовлении ориентированного базового среза монокристаллических слитков. Изобретение позво ляет увеличить информативность при определении кристаллографической ориентации монокристаллического слитка произвольной формы за счет определения кристаллографической связи меж...

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (51) 4 В 24 В 5/04 ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ СССР ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 3323241/25-08 (22) 27.07.81 (46) 15.07.87. Бюл. 26 (71) Киргизский горно-металлургический комбинат (72) M.Г. Ураевский, В,P. Хван и Ю.Г. Соболев (53) 621.923.5(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР 9 116251, кл. В 24 В 5/08, 1962. (54) (57) УСТР...

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля геометрических параметров полупроводниковых пластин. Цель изобретения - повышение точности, расширение диапазона измерений и обеспечение неразрушающих измерений при контроле толщины. Измеритель содержит датчик касания, привод датчика касания, генератор тактовых импульсов, коммутатор сигналов кали...