PatentDB.ru — поиск по патентным документам

КУРЕНКОВА ОЛЬГА НИКОЛАЕВНА

Изобретатель КУРЕНКОВА ОЛЬГА НИКОЛАЕВНА является автором следующих патентов:

Способ измерения распределения амплитуды колебаний объекта и устройство для его осуществления

Способ измерения распределения амплитуды колебаний объекта и устройство для его осуществления

  Изобретение относится к измерительнор технике. Целью изобретения является повышение точности и упрощение процесса измерений за счет расположения вибропреобразователя на некоторо.м расстоянии от колеблющегося объекта и сканирования поверхности объекта лазерным лу-юм. Устройство , реализующее способ измерения распределения амплитуды колсбаниГ| объек7 ; с(н чиненных к(., ;ебаний и ;...

1308841

Способ измерения рельефа микрообъектов

Способ измерения рельефа микрообъектов

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения размеров и рельефа микрообъектов. Цель изобретения - повышение точности измерения и информативности. Способ измерения рельефа микрообъектов заключается в том, что изображение микрообъекта 5, освещаемого лазерным источником 1 излучения,совмещают с масштабной сеткой в виде системы Ппоспоеть изоб...

1315800

Способ измерения радиуса кривизны сферических поверхностей объектов

Способ измерения радиуса кривизны сферических поверхностей объектов

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения радиуса кривизны сферических поверхностей различных объектов. Цель изобретения - расширение диапазона измеряемых значений до 50 мкм. Немонохроматическое излучение от источника 1 разделяют с помощью делителя 2 на два взаимно перпендикулярных пучка, освещают отраженным от делителя .2 пучком чере...

1411576

Способ определения глубины дефектов на поверхности объекта

Способ определения глубины дефектов на поверхности объекта

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано, в частности, для определения глубины раковин , треш,ин и других микродефектов на поверхности катодов. Цель изобретения - расширение диапазона измерения. Пучок лучей от источника 1 некогерентного света направляют на наклонную плоскопараллельную пластину 2, покрытую светоделительным слоем, и разделяют на два пучка, од...

1442817

Свч-устройство

Свч-устройство

  Изобретение относится к области радиотехники и м.б. использовано в радиоприемных и радиопередающих устройствах . Цель изобретения - .уменьшение амплитуды паразитной AM при воздействии механической вибрации звуковых частот. СВЧ-устройство содержит прямоугольную плату (П11) 1 с нанесенными на нее элементами 2 СВЧ- схемы. ПП 1 закреплена в корпусе, в котором в местах расположения вы...

1450073


Способ определения резонансных частот колебаний

Способ определения резонансных частот колебаний

  Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использовано для определения резонансных частот колебаний микрообъектов Целью изобретения является расширение диапазона амплитуд колебаний, в котором могут быть определены резонансные частоты, и повышение точности за счет фиксации момента резонанса по размытию резкого изображения поверхности объекта. Формируютс...

1626093

Способ определения геометрических размеров микропроволоки

Способ определения геометрических размеров микропроволоки

  Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения геометрических параметров микропроволоки. Целью изобретения является повышение точности при расширении диапазона измеряемых размеров. В поле зрения оптического блока 5 наблюдают увеличенное изображение микропроволоки 1, затем включают звуковой генератор 4, возбуждают с помощью электровозбудите...

1732179

Устройство для наблюдения изображений

Устройство для наблюдения изображений

  Изобретение относится к технике микроскопических измерений. Целью изобретения является одновременное наблюдение изображений одного или нескольких объектов под разными ракурсами. Для этого в устройство для наблюдения изображений введены прозрачная клиновидная пластинка 4, закрепленная в держателе с возможностью перемещения в плоскости, перпендикулярной оптической оси микроскопа ,...

1734067

Способ измерения тонких прозрачных и полупрозрачных слоев

Способ измерения тонких прозрачных и полупрозрачных слоев

  Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано для измерения толщины тонких прозрачных и полупрозрачных слоев, нанесенных на диффузно-отражающие поверхности , в частности, при контроле толщины защитного слоя печатных плат. Целью изобретения является расширение области применения за счет обеспечения возможности измерения толщины слоев, нанесенных н...

1772627

Способ определения параметров колебаний микрообъектов

Способ определения параметров колебаний микрообъектов

  СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ РЕСПУБЛИК (я)з G 01 В 9/00 ГОСУДАРСТВЕН ЮЕ ПАТЕНТНОЕ ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ К ДВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4954223/28 (22) 17.06.91 (46) 07.06.93. Бюл; % 21 (71) Центральный научно-исследовательский институт измерительной аппаратуры и Научно-исследовательский институт меха. ники и физики при Саратовском государ...

1820201